因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.导电性能测试：体电阻，表面电阻，电阻率，电导率，接触电阻

2.绝缘性能测试：绝缘电阻，介电强度，漏电流，介质损耗，击穿电压

3.耐压性能测试：工频耐压，直流耐压，脉冲耐压，阶梯升压耐受，过电压响应

4.半导体参数测试：正向导通电压，反向漏电流，阈值电压，导通电阻，结电容

5.开关特性测试：开启时间，关断时间，上升时间，下降时间，开关损耗

6.高温电学测试：高温绝缘电阻，高温漏电流，高温导通特性，高温击穿特性，温升后参数漂移

7.高压电学测试：阻断能力，雪崩耐受，反向恢复特性，电场承受能力，电压稳定性

8.频率响应测试：寄生参数，阻抗特性，谐振特性，介电频谱，高频损耗

9.热电耦合测试：结温影响，热阻，热稳定通电特性，通电温升，热循环后电参数变化

10.可靠性电测试：通断循环，长时间通电稳定性，偏压保持后参数变化，重复冲击后电性能，老化后电学一致性

11.栅极特性测试：栅极漏电流，栅极耐压，栅极电荷，栅极驱动响应，栅极绝缘稳定性

12.动态电参数测试：动态导通电阻，瞬态电压变化，瞬态电流响应，动态损耗，脉冲工作特性

检测范围

碳化硅二极管、碳化硅场效应器件、碳化硅功率模块、碳化硅衬底、碳化硅外延片、碳化硅晶圆、碳化硅芯片、碳化硅陶瓷基板、碳化硅加热元件、碳化硅电阻元件、碳化硅绝缘结构件、碳化硅封装器件、碳化硅整流器件、碳化硅逆变部件、碳化硅功率单元、碳化硅高压部件

检测设备

1.高阻计：用于测定高阻状态下的绝缘电阻、表面电阻及体电阻等参数。

2.耐压测试仪：用于施加规定电压并评估样品的耐压能力、击穿行为及漏电表现。

3.参数分析仪：用于测试器件的电流电压特性，获取导通、截止及阈值等关键电参数。

4.半导体特性测试系统：用于开展静态与动态电学性能测量，适用于多种碳化硅器件参数分析。

5.示波器：用于采集开关过程中的电压、电流波形，分析瞬态响应与时序特性。

6.脉冲电流测试装置：用于模拟脉冲工作条件，评估样品在短时大电流下的电学响应与承受能力。

7.高温试验箱：用于提供稳定温度环境，配合开展高温状态下的电性能测试。

8.阻抗分析仪：用于测量阻抗、容抗及频率响应特性，评估样品在交流条件下的电学行为。

9.热成像仪：用于观察通电过程中的表面温度分布，辅助分析发热点及热电耦合状态。

10.数据采集系统：用于实时记录测试过程中的电压、电流、温度等信号，支持连续监测与结果分析。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。