因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.总放射性水平：总放射性测定，放射性计数分析，本底扣除评估

2.表面放射污染：表面沾污测定，可擦拭污染检测，固定污染分析

3.剂量率测定：环境剂量率测定，接触剂量率测定，局部辐射水平分析

4.核素残留筛查：残留核素筛查，核素分布分析，异常放射源识别

5.放射性均匀性：放射性分布测定，区域差异分析，局部热点排查

6.材料本体放射性：基体放射性测定，内部残留分析，体积活度评估

7.包装表面残留：外包装污染测定，内包装残留分析，包装迁移污染排查

8.生产残留污染：加工残留测定，工序沾染分析，设备接触污染评估

9.储运过程放射影响：储存期间变化监测，运输后残留复测，环境暴露影响分析

10.废弃物放射残留：固体废弃物残留测定，边角料污染分析，再生料放射性筛查

11.微量放射异常：低水平放射异常识别，微量污染排查，临界值附近样品复核

12.样品稳定性复测：重复测定分析，时效变化评估，多点结果比对

检测范围

金属材料、矿物原料、建筑石材、陶瓷制品、玻璃材料、水泥制品、耐火材料、电子元件、线路板、塑料制品、橡胶制品、纺织材料、包装材料、工业粉体、涂层材料、过滤材料、实验室耗材、工业废料、再生材料、复合材料

检测设备

1.低本底放射性测量仪：用于低水平放射性样品测定，适合残留放射性筛查与精细分析。

2.辐射剂量率仪：用于测定样品周围辐射剂量率，可进行现场快速排查与区域监测。

3.表面污染测量仪：用于检测样品表面放射性沾污情况，适合固定污染和可擦拭污染分析。

4.放射性计数器：用于样品辐射计数测定，可开展总放射性水平分析与结果比较。

5.核素分析仪：用于识别样品中残留放射性核素特征，支持核素筛查与分布判断。

6.多道能谱测量装置：用于辐射能量分布测定，可辅助进行异常峰识别与残留特征分析。

7.样品灰化处理装置：用于部分固体样品前处理，便于提高测定稳定性与分析一致性。

8.恒温干燥设备：用于样品干燥和状态稳定处理，减少水分等因素对测定结果的影响。

9.屏蔽测量装置：用于降低环境本底干扰，提升微量放射残留测试的测定准确性。

10.样品制备设备：用于样品粉碎、混匀、分装等前处理操作，保证测试样品的代表性与均匀性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。