因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.平整度检测：面形偏差，平面度，局部起伏，边缘翘曲，厚度均匀性。

2.表面散射检测：总散射强度，角分布散射，漫散射水平，镜面散射偏离，散射均匀性。

3.纯度检测：主成分含量，杂质含量，无机残留，有机残留，颗粒污染物。

4.表面形貌检测：粗糙度，微观缺陷，划痕深度，凹坑密度，凸点分布。

5.光学均匀性检测：透过均匀性，反射均匀性，雾度分布，局部明暗差异，区域一致性。

6.洁净度检测：表面颗粒数，附着污染物，残留膜层，清洗残留，异物尺寸分布。

7.缺陷检测：针孔，裂纹，气泡，夹杂物，剥离痕迹。

8.几何尺寸检测：长度偏差，宽度偏差，厚度偏差，对角差，边缘直线度。

9.界面状态检测：涂层结合状态，层间均匀性，界面污染，附着缺陷，局部脱层。

10.材料稳定性检测：热处理后平整度变化，湿热后散射变化，储存后纯度变化，表面老化情况，使用前后性能漂移。

11.颗粒特征检测：颗粒数量，粒径分布，颗粒形貌，颗粒成分，颗粒附着状态。

12.区域对比检测：中心与边缘差异，不同批次均匀性，不同位置散射差异，不同区域纯度差异，表面一致性评价。

检测范围

光学玻璃、石英片、透明基板、显示面板基材、导光板、扩散板、保护玻璃、功能薄膜、偏光片基材、透明陶瓷片、反射片、增亮膜、窗口片、滤光片基材、晶圆抛光片、盖板材料

检测设备

1.平面度测量仪：用于测定样品整体平整状态与面形偏差，适合精密平面制品的几何评价。

2.激光散射分析仪：用于测量表面散射强度及角度分布，评估样品对光线传播的影响特征。

3.表面粗糙度测量仪：用于分析表面微观起伏情况，可反映加工质量与散射形成因素。

4.光谱分析仪：用于检测样品成分构成及杂质信号，适合纯度与均匀性分析。

5.显微观察仪：用于观察划痕、凹坑、颗粒及裂纹等微观缺陷，支持表面状态判定。

6.厚度测量仪：用于测量样品厚度及厚度分布，辅助分析平整度与结构一致性。

7.洁净度检测仪：用于统计表面颗粒及污染物情况，可用于清洁效果与污染水平评估。

8.透反射测量仪：用于检测样品透过与反射特性，分析光学均匀性及区域差异。

9.轮廓测量仪：用于获取表面轮廓和局部起伏数据，适合边缘翘曲与局部变形分析。

10.恒温恒湿试验设备：用于模拟环境变化条件，观察样品平整度、散射及纯度相关性能的稳定性变化。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。