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半导体封装材料热导率检测

原创版权 关键字:半导体封装材料热导率测试周期,半导体封装材料热导率测试案例,半导体封装材料热导率测试范围 相关: 发布时间: 2025-07-23 14:16:02

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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

热物理性能:

  • 热导率:稳态热导率(λ,单位W/(m·K))、瞬态热导率(参照ASTME1461,ISO22007-2)
  • 热扩散系数:α(单位mm²/s,参照ASTME2585)
  • 比热容:Cp(单位J/(g·K),同步热分析)
热机械性能:
  • 热膨胀系数:CTE(ppm/K,温度范围-65°C至300°C,参照ASTME831)
  • 玻璃化转变温度:Tg(DMA法tanδ峰值,参照ASTMD7028)
  • 存储模量:E'(MPa,频率1Hz)
热稳定性:
  • 热分解温度:Td(5%失重温度,参照ASTME1131)
  • 线性烧蚀率:高温气流环境(≥500°C)
界面热阻:
  • 接触热阻:Rc(K·cm²/W,参照ASTMD5470)
  • 层间热阻抗:多层级封装结构测试
电绝缘性能:
  • 体积电阻率:ρv(Ω·cm,参照IEC62631-3-1)
  • 介电强度:kV/mm(厚度0.1mm试样,参照IEC60243-1)
力学性能:
  • 弹性模量:E≥15GPa(三点弯曲法)
  • 抗弯强度:σf≥150MPa(跨距20mm)
  • 断裂韧性:KIC(MPa·m¹/²,SEPB法)
微观结构分析:
  • 填料分布均匀性:SEM/EDS面扫描(分辨率≤1μm)
  • 孔隙率:≤0.5%(X射线断层扫描)
化学兼容性:
  • 离子杂质:Na⁺≤5ppm、Cl⁻≤3ppm(IC分析)
  • 有机挥发物:TVOC≤50μg/g(GC-MS)
环境可靠性:
  • 湿热老化:85°C/85%RH下热导率衰减率≤10%
  • 温度循环:-55°C~125°C1000次循环后CTE变化≤5%
各向异性:
  • 平面/厚度方向热导率比:λ∥/λ⊥(1.05~3.0范围)
  • 取向度:XRD极图分析

检测范围

1.环氧模塑料(EMC):检测高填充量(70-90wt%)硅酮/氧化铝体系的导热网络完整性,重点关注填料分布与界面热阻

2.导热界面材料(TIM):涵盖导热硅脂、相变材料及导热垫片,检测25-100μm厚度下的接触热阻与泵出效应

3.陶瓷基板:AlN/Al₂O₃基板的各向异性热导率(平面方向≥170W/mK),结合金属化层热匹配性测试

4.金属键合线:Au/Cu/Ag合金线的热扩散系数(α≥50mm²/s)与高温强度保持率

5.烧结银浆:孔隙率≤5%试样的瞬态热导率(λ≥200W/mK)及高温氧化稳定性

6.聚合物复合材料:聚酰亚胺/氮化硼薄膜的厚度方向热导率(λ⊥≥1.5W/mK)与介电损耗协同优化

7.液态金属:Ga基合金的润湿性(接触角≤15°)与电化学迁移抑制能力

8.热解石墨:定向热解石墨片的平面热导率(λ∥≥1500W/mK)与层间结合强度

9.纳米碳材料:碳纳米管阵列/石墨烯膜的垂直热导率(λ⊥≥20W/mK)及结构缺陷分析

10.金属基复合材料:SiC/Al电子封装壳体热导率(λ≥180W/mK)与CTE匹配性(6.5~9.5ppm/K)

检测方法

国际标准:

  • ASTMD5470-22薄导热固电材料热传导性能标准试验方法
  • ISO22007-4:2017塑料热传导率和热扩散率的测定第4部分:激光闪射法
  • ASTME1461-22用闪光法测定热扩散率的标准试验方法
  • JEDECJESD51-1集成电路热测量方法环境空气/结温
  • MIL-STD-883K1017.1稳态表面热流法
国家标准:
  • GB/T32064-2015建筑保温材料稳态热阻及有关特性的测定防护热板法
  • GB/T22588-2008闪光法测定热扩散系数或导热系数
  • SJ/TJianCe80-2014电子封装用环氧模塑料热导率测试方法
  • GB/T10297-2015非金属固体材料导热系数的测定热线法
方法差异说明:ASTMD5470采用稳态热流法适用于软质薄片材料,ISO22007-4激光闪射法适用硬质块体材料;GB/T10297热线法对试样尺寸要求更宽松,JESD51-1侧重器件级热特性评估

检测设备

1.激光闪射导热仪:NETZSCHLFA467HyperFlash(温度范围-125~500°C,热扩散系数精度±3%)

2.稳态热流计:TIM-TesterT3STER(热阻分辨率0.01K/W,压力范围5~100N)

3.防护热板仪:HolometrixLambda2000(热导率范围0.001~20W/mK,符合ASTMC177)

4.热机械分析仪:TAInstrumentsTMA450(CTE分辨率0.02ppm/K,温度范围-150~1000°C)

5.动态热分析仪:HitachiDMS6100(模量测量频率0.01~100Hz,Tg检测精度±0.5°C)

6.同步热分析仪:NETZSCHSTA449F5(比热容精度±3%,TG-DSC同步测量)

7.扫描电子显微镜:HitachiSU5000(分辨率1.5nm,EDS面分析精度0.1wt%)

8.X射线衍射仪:RigakuSmartLab(2θ角精度±0.0001°,极图分析功能)

9.微焦点CT系统:

10.高低温试验箱:ESPECT-240(温变速率15°C/min,温度范围-70~180°C)

11.万能材料试验机:INSTRON5967(载荷范围0.02kN-30kN,位移分辨率0.015μm)

12.离子色谱仪:ThermoScientificDionexICS-6000(Na⁺检测限0.1ppb)

13.气相色谱质谱联用仪:Agilent8890/5977B(TVOC检测限0.01μg/g)

14.红外热像仪:FLIRX8580SC(热灵敏度20mK,帧频180Hz)

15.热阻扫描系统:PicoThermTerahertzTDS(非接触式界面热阻测量,精度±5%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

本文链接:https://www.yjser.com/huanjingjiance/23659.html

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