因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.平面度测量：整体平面度，局部平面度，基准平面度。

2.翘曲度检测：整体翘曲，边缘翘曲，对角翘曲。

3.厚度均匀性：厚度偏差，厚度分布，厚度波动。

4.表面波纹度：波纹幅值，波纹周期，波纹分布。

5.局部起伏：局部隆起，局部凹陷，起伏高度。

6.平行度检验：上下表面平行度，相邻面平行度，基准平行度。

7.垂直度检验：端面垂直度，侧面垂直度，基准垂直度。

8.边缘平整度：边缘起伏，边缘翘曲，边缘平面度。

9.基准面一致性：基准面稳定性，基准面偏差，基准面重复性。

10.表面粗糙度：粗糙度参数，峰谷高度，纹理方向。

11.形位综合偏差：综合平面偏差，综合形位偏差，综合几何偏差。

12.尺寸变形评估：变形量，回弹量，变形分布。

检测范围

金属盖板、精密垫片、散热片、连接法兰、轴承座、机壳平面、齿轮端面、滑块、导轨面、支撑座、夹具底板、安装支架、传感器底座、阀体端面、密封环、压板、定位块、端盖、隔板、面板

检测设备

1.平面度测量仪：用于整体平面度与局部平面度测量，获取面形偏差分布。

2.三坐标测量机：用于几何形位与平面度检测，支持多点采样与坐标拟合。

3.激光干涉测量仪：用于高精度平整度测量，适合微小形变分析。

4.表面轮廓仪：用于表面波纹与起伏检测，输出轮廓曲线数据。

5.粗糙度测量仪：用于表面粗糙度参数评估，反映表面微观状态。

6.高度计：用于高度差与平面差测量，适合基准面检测。

7.直线度测量仪：用于基准线直线度与面形关联评估。

8.平行度检测装置：用于两平面平行度测量，辅助装配适配性分析。

9.光学测量系统：用于非接触平整度与形貌测量，适应精细表面。

10.厚度测量仪：用于厚度均匀性评估，识别厚度分布差异。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。