因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 元素组成与分布分析：主要元素定性定量分析，微量杂质元素检测，元素面分布与线扫描分析。

2. 材料物相鉴定：晶体结构定性分析，物相半定量分析，结晶度计算。

3. 微观形貌与结构观察：表面及断面微观形貌观察，颗粒尺寸与分布统计，涂层或薄膜厚度测量。

4. 化学态与价态分析：特定元素化学环境鉴定，元素价态定性及半定量分析，化学键合状态研究。

5. 杂质与掺杂元素分析：掺杂元素含量与分布均匀性评估，有害杂质元素鉴定与溯源。

6. 深度剖面分析：薄膜或涂层组分随深度变化分析，界面扩散行为研究。

7. 微区定量分析：选定微区范围内元素百分含量精确测定。

8. 相组成与分布：多相材料中各相的元素组成鉴定，相分布均匀性评价。

9. 失效与缺陷分析：失效部位异物分析，成分偏析鉴定，腐蚀或老化产物分析。

10. 工艺监控与对比：不同批次材料成分一致性对比，工艺处理前后成分变化分析。

11. 材料鉴别：未知能源材料组成快速筛查与鉴别。

检测范围

锂离子电池正极材料、锂离子电池负极材料、固态电解质、隔膜涂层、燃料电池催化剂、质子交换膜、气体扩散层、太阳能电池硅片、钙钛矿光伏材料、透明导电薄膜、热电转换材料、储氢合金材料、超级电容器电极材料、电极浆料、导电添加剂、封装材料、焊点与连接部件、循环测试后极片、退役电池拆解材料

检测设备

1. 扫描电子显微镜-能谱仪联用系统：用于获取材料微观形貌并同步进行微区元素定性与半定量分析；具备高分辨率成像与快速元素面分布分析功能。

2. 透射电子显微镜-能谱仪联用系统：用于纳米尺度甚至原子尺度的微观结构观察与极微区元素成分分析；可进行晶格像观察与选区元素分析。

3. X射线光电子能谱仪：用于材料表面元素组成、化学态及电子结构的定性定量分析；可进行深度剖析研究表面及界面化学信息。

4. 电子探针微区分析仪：用于对材料微米尺度区域进行高精度定量元素分析；具备波谱分析能力，元素检测限低，定量准确性高。

5. X射线荧光光谱仪：用于对块状、粉末、液体等样品进行快速无损的元素成分定性及定量分析；适合主量及次量元素筛查。

6. 电感耦合等离子体发射光谱仪：用于溶液样品中多种痕量及常量元素的精确定量分析；检测线性范围宽，灵敏度高。

7. 电感耦合等离子体质谱仪：用于超痕量元素及同位素比值分析；具备极低的检测限，适用于高纯度材料中杂质元素鉴定。

8. 辉光放电发射光谱仪：用于涂层、镀层及块体材料的深度方向元素成分分布分析；可提供从表面至基体的连续成分剖面信息。

9. 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱联用系统：用于固体样品微区原位元素及同位素分析；可实现高空间分辨率的元素面分布成像。

10. 微区X射线衍射仪：用于对材料特定微区进行物相鉴定与结构分析；可与能谱分析结合，关联微观区域的成分与物相信息。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。