因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.介电常数检测：静态介电常数，频率相关介电常数，温度谱测定。

2.介质损耗检测：损耗角正切值测定，损耗因子频率谱，损耗温度依赖性分析。

3.介电频谱分析：宽频介电谱测量，介电弛豫过程分析，弛豫时间分布拟合。

4.介电强度测试：击穿电场强度测定，耐压性能评估，长期工作电压下的稳定性测试。

5.体积电阻率与表面电阻率检测：高阻测量，绝缘电阻测试，导电性能评估。

6.介电温度谱分析：玻璃化转变温度识别，相变点测定，热稳定性评估。

7.介电热刺激电流分析：陷阱电荷释放测量，载流子迁移特性研究，老化状态评估。

8.阻抗谱分析：复阻抗测量，等效电路拟合，界面极化效应研究。

9.介电性能老化测试：湿热老化后性能测试，电老化寿命评估，环境应力下的性能变化。

10.薄膜介电性能检测：薄膜介质常数精确测量，薄膜击穿场强，界面态密度分析。

11.铁电与压电材料性能检测：电滞回线测量，剩余极化强度，压电系数测定。

检测范围

高分子绝缘薄膜、环氧树脂灌封胶、陶瓷介质基板、聚酰亚胺柔性基材、硅橡胶绝缘子、聚乙烯电缆料、电工层压木板、复合绝缘子、电容器介质材料、微波介质陶瓷、印制电路板基材、绝缘漆、云母带、玻璃纤维增强塑料、半导体封装材料、锂离子电池隔膜、功能梯度材料、驻极体材料、压电陶瓷元件、铁电存储器薄膜

检测设备

1.宽频介电谱仪：用于在宽频率范围内测量材料的介电常数和损耗谱；具备精确的温度控制与频率扫描能力。

2.高压击穿试验仪：用于测定固体和液体绝缘材料的介电强度；提供可编程的升压速率和多级电压输出。

3.高阻计与静电计：用于精确测量材料的体积电阻率和表面电阻率；适用于极高阻抗样品的微弱电流检测。

4.阻抗分析仪：用于测量材料在不同频率下的复阻抗与介电性能；支持等效电路建模与参数提取。

5.热刺激电流测量系统：用于分析材料中的陷阱电荷与弛豫过程；结合程序控温进行电荷释放谱的采集。

6.铁电材料测试系统：用于测量铁电材料的电滞回线、剩余极化及压电响应；集成高压放大器与精密电荷测量单元。

7.精密电容测量夹具与仪器：用于在不同温度和环境条件下精确测量薄膜或小块样品的电容值；包含三电极系统以消除边缘效应。

8.环境试验箱：用于在进行介电测试前对样品进行恒温恒湿、高低温循环等环境预处理；以模拟实际工况条件。

9.自动控温样品台：与介电谱仪等设备联用，实现对样品从低温到高温的精确程序控温；确保温度依赖性数据的准确性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。