因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.导电性能检测：表面电阻率、体积电阻率、方块电阻、绝缘电阻。

2.表面形貌与平整度检测：表面轮廓算术平均偏差、轮廓最大高度、表面波纹度、整体翘曲度、局部凹凸缺陷评估。

3.厚度均匀性检测：基材平均厚度、厚度公差、横向厚度分布、纵向厚度变化。

4.机械性能相关电学检测：拉伸后电阻变化率、弯曲后导电层连续性、耐折度测试后的电性能。

5.环境可靠性电学检测：高温高湿环境下的绝缘电阻、热老化后表面电阻变化、冷热冲击后导电性能稳定性。

6.膜层附着性能检测：导电层附着力、镀层剥离强度、涂层与聚酯基材结合力。

7.介电性能检测：介电常数、介质损耗角正切值、击穿电压强度。

8.光学特性与电学关联检测：透光率、雾度对透明导电膜电阻的影响。

9.表面清洁度与污染检测：表面异物颗粒尺寸与分布、有机污染物残留评估。

10.热收缩性能检测：热收缩率及其对电路对准精度和电阻一致性的影响。

11.化学耐受性检测：接触化学试剂后表面电阻与平整度变化。

检测范围

聚酯薄膜基材、抗静电聚酯薄膜、透明导电聚酯薄膜、金属化镀铝聚酯薄膜、覆铜聚酯薄膜、柔性印刷电路板用聚酯基板、触摸屏传感器用聚酯薄膜、显示器用光学聚酯薄膜、锂电池用聚酯隔膜、耳机振膜用聚酯材料、太阳能电池背板用聚酯膜、射频识别天线基材用聚酯薄膜、电磁屏蔽用聚酯复合材料、带胶聚酯保护膜、硬化处理聚酯盖板、光电模块封装用聚酯膜

检测设备

1.表面轮廓仪：用于高精度测量薄膜表面的微观轮廓和粗糙度参数；采用接触式或非接触式探针，绘制二维或三维形貌图。

2.四探针测试仪：用于测量薄膜材料的表面电阻率和方块电阻；通过四根等间距探针消除接触电阻影响，测量结果准确。

3.激光干涉平整度仪：用于非接触式测量大尺寸薄膜的全场平整度与翘曲度；基于光学干涉原理，可快速获取纳米级精度的形变数据。

4.薄膜测厚仪：用于精确测量基材及功能涂层的厚度及其均匀性；可采用涡流、电容或光谱共焦等原理。

5.介电常数测试仪：用于测量材料在不同频率下的介电常数和介质损耗；通常采用平行板电容器原理或谐振法。

6.拉力试验机：用于测试薄膜的拉伸强度、伸长率，并同步监测拉伸过程中电阻值的变化；配备高精度力值传感器和伸长计。

7.恒温恒湿试验箱：用于模拟高温高湿等恶劣环境，考察薄膜电学性能与外观平整度的长期稳定性；可编程控制温湿度曲线。

8.光学透过率测量仪：用于测量透明或半透明导电薄膜的可见光透光率和雾度值；积分球结构确保测量准确性。

9.扫描电子显微镜：用于观察薄膜表面及截面的微观形貌、涂层覆盖均匀性及缺陷结构；配备能谱仪可进行微区成分分析。

10.热机械分析仪：用于测量薄膜材料在受热条件下的尺寸变化，精确测定其热膨胀系数和热收缩率。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。