因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.主成分分析：碳化硅含量，总硅含量，总碳含量。

2.杂质元素分析：铁含量，铝含量，钙含量。

3.氧化物成分分析：二氧化硅含量，氧化铁含量，氧化铝含量。

4.游离相分析：游离碳含量，游离硅含量，未反应原料含量。

5.微量元素分析：镁含量，钛含量，锰含量。

6.物相组成分析：碳化硅晶型组成，伴生矿物组成，氧化物相组成。

7.粒度组成分析：颗粒分布，细粉含量，粗颗粒含量。

8.水分与挥发分分析：水分含量，挥发分含量，干燥失重。

9.灼烧特性分析：灼烧减量，灼烧残留，氧化增重。

10.酸碱不溶物分析：酸不溶物含量，碱不溶物含量，不溶残渣含量。

11.纯度分析：主体纯度，无机杂质总量，可溶性杂质含量。

12.均匀性分析：批次成分均匀性，取样一致性，局部偏析情况。

检测范围

黑碳化硅块料、绿碳化硅块料、碳化硅颗粒料、碳化硅细粉、碳化硅微粉、碳化硅原料粉、冶金用碳化硅、耐火用碳化硅、磨料用碳化硅、陶瓷用碳化硅、脱氧用碳化硅、铸造用碳化硅、喷砂用碳化硅、碳化硅回收料、碳化硅压块、碳化硅混合料

检测设备

1.电子天平：用于样品称量，满足成分分析中定量取样和结果计算的基础要求。

2.干燥箱：用于样品干燥和恒重处理，测定水分及减少环境湿度对结果的影响。

3.高温炉：用于灼烧、灰化和高温处理，支持灼烧减量及相关热处理分析。

4.光谱分析仪：用于测定样品中的多种元素含量，适合主量元素和杂质元素分析。

5.化学分析仪：用于常规成分测定，支持含量计算、溶液分析和定量检测。

6.粒度分析仪：用于测定颗粒分布范围，评估样品粒径组成及分散特征。

7.显微镜：用于观察颗粒形貌、杂质分布和组织特征，辅助判断样品均匀性。

8.衍射分析仪：用于分析样品物相组成和晶型分布，识别碳化硅及伴生相特征。

9.热分析仪：用于研究样品受热过程中的质量和热效应变化，辅助判断挥发分及氧化行为。

10.振筛机：用于颗粒样品的筛分处理，支持粒度分级和粗细颗粒含量测定。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。