因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.表面颜色检查：综合色泽，色差，颜色均匀性，局部变色，烧结色斑。

2.表面平整度检查：表面起伏，局部凹陷，局部凸起，翘曲表现，波纹痕迹。

3.光洁度检查：表面粗糙状态，抛光均匀性，磨削痕，划痕，擦伤痕。

4.裂纹缺陷检查：表面裂纹，细微裂缝，边缘裂纹，贯穿性裂纹迹象，热裂痕。

5.孔隙与气孔检查：开口气孔，针孔，疏松点，孔洞分布，局部孔隙聚集。

6.夹杂与异物检查：黑点，白点，杂质颗粒，异色夹杂，表面附着异物。

7.崩边与缺角检查：边缘崩裂，棱角缺损，倒角不完整，局部掉块，端面破损。

8.尺寸外观一致性检查：外形轮廓一致性，厚薄均匀性，边线平直性，开孔外观一致性，批次外观偏差。

9.加工痕迹检查：切削痕，磨削纹，抛磨残留痕，加工烧伤痕，刀痕连续性。

10.烧结外观检查：烧结斑，表面氧化痕，烧结不均痕迹，收缩异常痕，局部失光。

11.镀覆前基面检查：基面洁净度，表面残留物，局部剥落点，微小缺陷暴露情况，处理均匀性。

12.印记与污染检查：指印残留，油污，粉尘附着，水渍痕迹，包装摩擦印。

检测范围

氮化硅陶瓷基片、氮化硅陶瓷球、氮化硅陶瓷轴承件、氮化硅密封环、氮化硅喷嘴、氮化硅导轨件、氮化硅结构件、氮化硅坩埚、氮化硅绝缘件、氮化硅垫片、氮化硅套管、氮化硅柱塞、氮化硅阀件、氮化硅散热基板、氮化硅棒材、氮化硅板材、氮化硅异形件、氮化硅加工件

检测设备

1.外观检测灯箱：用于提供稳定均匀的照明条件，便于观察样品表面颜色差异、污点及细微缺陷。

2.体视显微镜：用于放大观察表面裂纹、崩边、孔隙和微小夹杂，适合缺陷形貌判定。

3.工业显微镜：用于对细小加工痕、微裂纹及局部异常区域进行高倍率观察与记录。

4.表面粗糙度测量仪：用于评估样品表面粗糙状态，辅助判定光洁度及加工表面一致性。

5.光学影像测量仪：用于测量外形轮廓、边缘完整性和开孔外观尺寸，支持外观一致性分析。

6.平面度测量装置：用于检查样品表面平整度、翘曲情况及局部变形程度。

7.放大镜：用于快速筛查表面划伤、色斑、异物附着和轻微边缘缺陷，适合初步外观检查。

8.照相记录装置：用于采集样品缺陷图像，保存外观状态，便于结果留存和复核。

9.洁净操作台：用于在低污染环境下进行样品外观检查，减少粉尘和杂质对观察结果的干扰。

10.样品定位台：用于固定不同形状的氮化硅样品，便于多角度观察边缘、端面及复杂部位外观。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。