因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.电性能稳定性：静态电流变化，输出电压漂移，输入阈值偏移。

2.功能完整性：逻辑功能保持，时序功能保持，信号正确性。

3.参数漂移：增益变化，频率偏移，传输延迟变化。

4.温度应力响应：高温运行稳定性，低温运行稳定性，温度循环耐受。

5.电压应力响应：过压耐受性，欠压耐受性，电源波动敏感性。

6.功耗变化：静态功耗变化，动态功耗变化，漏电流变化。

7.信号完整性：上升下降时间变化，抖动变化，噪声容限变化。

8.耐久运行：持续通电稳定性，间歇通电稳定性，启动循环稳定性。

9.封装与互连可靠性：引线连接稳定性，焊点完整性，封装应力影响。

10.老化失效模式：开路失效趋势，短路失效趋势，参数失效趋势。

11.绝缘特性变化：绝缘电阻变化，击穿电压变化，介质损耗变化。

12.敏感性评估：静电敏感变化，热敏感变化，电源噪声敏感变化。

检测范围

微控制器、存储器芯片、模拟电路芯片、数字逻辑芯片、功率管理芯片、射频芯片、传感器芯片、接口控制芯片、驱动芯片、信号处理芯片、时钟芯片、可编程逻辑芯片、运算芯片、图形处理芯片、音频处理芯片、通信芯片、加密芯片、电源转换芯片、光电芯片、监测芯片

检测设备

1.高温老化箱：提供稳定高温环境以加速老化过程。

2.温度循环箱：实现温度循环变化以评估热应力影响。

3.电源应力系统：施加可控电压电流应力以观察稳定性。

4.自动测试系统：进行多参数电性能与功能测试。

5.示波测量系统：监测信号波形与时序特性变化。

6.精密参数分析仪：测量电流电压与参数漂移。

7.功耗分析设备：评估功耗与漏电流变化。

8.静电敏感测试装置：评估静电敏感程度变化。

9.显微观察设备：观察封装与互连部位的异常迹象。

10.数据记录系统：记录老化过程中的长期参数变化。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。