因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 基础电学参数测试：体积电导率，表面电导率，电阻率，方块电阻。

2. 半导体材料特性分析：载流子浓度，载流子迁移率，霍尔系数，导电类型判定。

3. 薄膜与涂层导电性能测试：薄膜电阻，透光导电性，附着力对电导影响，厚度均匀性关联分析。

4. 导电高分子材料分析：电导率随温度变化特性，掺杂效应评估，分子结构对导电性影响。

5. 纳米材料与复合材料电导测试：纳米线/管电导，填料分散性对复合电导影响，渗流阈值测定。

6. 各向异性材料电导分析：面内与面外电导率，晶体取向对导电性影响。

7. 接触电阻与界面特性测试：金属-半导体接触电阻，电极与材料界面阻抗，欧姆接触特性评估。

8. 温度依赖特性测试：电导率-温度关系，激活能计算，半导体本征/非本征导电区间判定。

9. 频率依赖特性测试：交流电导率，介电常数与电导关联分析。

10. 环境稳定性测试：湿热环境后电导变化，氧化/老化对导电性影响。

11. 机械应力下电学性能测试：拉伸、弯曲应变下电阻变化，压阻效应评估。

检测范围

硅片、砷化镓等半导体晶圆、导电银浆、氧化铟锡导电玻璃、导电高分子薄膜、石墨烯及碳纳米管分散液、金属纳米线透明电极、导热导电胶粘剂、陶瓷基复合材料、锂离子电池电极材料、压敏电阻瓷料、印制电路板基材、电磁屏蔽涂料、有机发光二极管功能层材料、热电转换材料、金属化薄膜、焊锡膏、导电纤维与织物

检测设备

1. 四探针测试仪：用于精确测量半导体材料、导电薄膜的电阻率与方块电阻；采用直线或方形四探针法，可消除接触电阻影响。

2. 霍尔效应测试系统：用于测定半导体材料的载流子浓度、迁移率、霍尔系数及导电类型；通常在可变温磁场环境下进行。

3. 高阻计/静电计：用于测量极高电阻或极低电流，适用于绝缘材料、高阻半导体及漏电流分析；具备极高的输入阻抗和电流分辨率。

4. 阻抗分析仪：用于测量材料在不同频率下的阻抗、电导及介电特性；适用于分析频率相关的导电机制和界面效应。

5. 源测量单元：可精密输出电压或电流并同步测量响应信号；用于伏安特性测试、接触电阻分析及材料非线性电导行为研究。

6. 探针台系统：为微区电学测试提供平台，配备显微装置和精密微探针；用于对微小器件、特定晶粒或薄膜局部区域进行电导测量。

7. 环境试验箱：提供可控的温度、湿度环境，用于测试材料电学性能的环境可靠性及温度依赖性。

8. 材料拉伸试验机（集成电学测量模块）：在施加机械应力的同时，实时监测材料电阻或电导的变化，用于评估材料的压阻效应和机械耐久性。

9. 薄膜厚度测量仪：精确测量导电薄膜的厚度，为计算准确的体积电导率提供必要参数；常用方法包括台阶仪或椭圆偏振仪。

10. 超净环境操作箱：提供无尘、低湿的样品制备与测试环境，防止污染对高灵敏度电导测量结果，特别是纳米材料的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。