因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.离子残留物分析：氯离子含量，溴离子含量，硫酸根离子含量，硝酸根离子含量，钠离子含量，钾离子含量，铵离子含量。

2.微粒污染物分析：金属微粒数量与尺寸分布，非金属微粒数量与尺寸分布，纤维状污染物计数。

3.非挥发性残留物分析：有机残留物总量，松香残留量，助焊剂活性物质残留。

4.表面有机污染物鉴定：烃类污染物，硅氧烷类污染物，增塑剂类污染物。

5.电化学迁移倾向测试：表面绝缘电阻测试，离子迁移倾向评估。

6.洁净度等级评定：基于微粒尺寸与数量的洁净度代码判定。

7.焊后残留物分析：免清洗助焊剂残留物，水溶性助焊剂残留物。

8.表面润湿性评估：接触角测量，评估污染物对焊接质量的影响。

9.可水解氟化物与氯化物测试：评估特定工艺残留物的腐蚀风险。

10.表面萃取液特性分析：萃取液电导率，萃取液酸碱度。

11.目检与显微检查：宏观可见污染物检查，微观颗粒与残留物形貌观察。

检测范围

印刷电路板、集成电路芯片、陶瓷封装元件、金属封装外壳、半导体晶圆、引线框架、接插件与连接器、传感器、混合集成电路、继电器、变压器、电感器、电容器、电阻器、功率模块、散热基板、键合丝、焊球与焊膏、贴装后的组件、清洗后的电子组件

检测设备

1.离子色谱仪：用于精确分离和定量检测电子元件表面萃取液中的各种阴离子与阳离子残留；具有高灵敏度与低检测限。

2.激光粒子计数器：用于对清洗液或元件表面冲洗液中的微粒进行在线或离线计数与尺寸分析；可区分不同粒径通道。

3.扫描电子显微镜搭配能谱仪：用于对元件表面或滤膜采集的微粒进行高倍率形貌观察与元素成分定性及半定量分析。

4.非挥发性残留物测试仪：通过精密蒸发与称重，测定元件表面可萃取物的总质量；具备高精度天平与恒温蒸发系统。

5.傅里叶变换红外光谱仪：用于鉴定元件表面有机污染物的官能团与化学结构，识别污染物种类。

6.表面绝缘电阻测试系统：在特定温湿度条件下，测量平行导线或梳状电极间的绝缘电阻，评估离子残留导致的电化学迁移风险。

7.接触角测量仪：通过分析液滴在元件表面的形状，计算接触角，客观评估表面清洁度与润湿性能。

8.超声波萃取装置：用于在受控条件下将元件表面的污染物萃取到特定溶液中，为后续仪器分析制备样品。

9.膜过滤装置：用于收集清洗液中的微粒污染物，将微粒截留在特定孔径的滤膜上，以便进行重量分析或显微观察。

10.高精度分析天平：用于称量滤膜、样品容器等的质量变化，是进行微粒重量分析和非挥发性残留物测试的核心设备。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。