因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元数据一致性分析：拍摄设备信息核实，拍摄时间戳校验，地理位置数据完整性检查。

2.图像格式属性检测：文件头结构分析，编码参数符合性判定，数据流连续性评估。

3.像素级篡改识别：复制粘贴痕迹检测，图像重采样痕迹提取，区域修补识别。

4.成像传感器特征分析：光响应非均匀性检测，传感器噪声模式提取，设备指纹匹配。

5.压缩特征深度分析：量化表一致性校验，二次压缩痕迹检测，编码伪影分析。

6.光照与阴影一致性：光源方向测定，阴影逻辑校验，表面反射特征分析。

7.颜色滤波阵列检测：插值算法痕迹识别，颜色分量相关性分析，色彩一致性核查。

8.几何畸变规律分析：镜头畸变参数校验，透视关系合理性评估，投影几何一致性检测。

9.边缘与噪声特征：边缘锐化痕迹分析，背景噪声分布均匀性检测，信噪比异常识别。

10.语义内容逻辑核查：画面内容逻辑合理性，物理规律符合性，视觉矛盾点排查。

11.生成式内容识别：人工智能合成痕迹检测，生成对抗网络特征提取，像素分布异常分析。

12.历史编辑记录追溯：软件留存信息检测，图层合并痕迹分析，保存历史特征提取。

检测范围

数码相机照片、智能手机拍摄图片、监控录像截图、电子证件扫描件、新闻纪实摄影作品、法律证据照片、医疗影像图片、社交媒体传输图片、扫描文档影像、遥感卫星图像、无人机航拍照片、工业检测图像、艺术品数字化副本、红外热成像图、电子合同截图。

检测设备

1.图像取证分析工作站：用于大规模图像数据的底层结构解析与深度取证处理。

2.高性能图形运算服务器：提供复杂的图像算法运行环境，支持高分辨率图像的实时分析。

3.像素级特征提取系统：自动识别并提取图像中微小的编辑痕迹与数据异常点。

4.传感器噪声建模仪：通过算法提取成像设备的物理噪声特征，用于源头追溯。

5.光照一致性仿真终端：模拟物理光照环境，验证图像中阴影与反射的真实性。

6.频谱特征分析系统：利用频域变换技术识别图像是否经过滤波或缩放处理。

7.元数据深度解析工具：提取并分析图像文件内部隐藏的所有属性与历史变更记录。

8.几何透视校验测量仪：通过数学建模检测图像中物体的空间几何关系是否符合物理规律。

9.压缩伪影检测装置：分析图像在存储与传输过程中的压缩特征变化，识别二次处理行为。

10.色彩分布监测系统：检测图像颜色分量的统计学特征，识别非自然的色彩调整。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。