因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.直流参数测试：供电电流、输入漏电流、输出驱动电流、高低电平电压、电源导通电阻。

2.交流参数测试：信号传输延迟时间、建立与保持时间、时钟频率、上升与下降时间。

3.功能验证测试：逻辑功能真值表验证、静态功能测试、动态扫描链测试。

4.模拟参数测试：增益、带宽、失调电压、共模抑制比、电源抑制比。

5.混合信号测试：数模转换器的微分非线性与积分非线性、模数转换器的信噪比与有效位数。

6.存储器专项测试：存储单元读写功能、存取时间、数据保持能力、冗余修复验证。

7.输入输出特性测试：输入电压容限、输出电压摆幅、输出负载特性、信号完整性眼图分析。

8.功耗特性分析：静态功耗、动态功耗、不同工作模式下的功耗分布。

9.可靠性相关电性测试：高温下的参数漂移、低温启动特性、电源电压波动耐受性。

10.时序一致性分析：关键路径时序余量、时钟抖动与偏斜、不同批次间时序参数分布。

检测范围

中央处理器、图形处理器、嵌入式微控制器、数字信号处理器、现场可编程门阵列、静态随机存储器、动态随机存储器、闪存存储器、电源管理芯片、运算放大器、数据转换器、射频收发芯片、传感器接口芯片、显示驱动芯片、通信协议处理芯片、专用集成电路

检测设备

1.自动化测试机台：用于对集成电路进行高速、并行的直流、交流及功能测试；可编程控制测试流程并自动记录数据。

2.精密参数分析仪：用于进行高精度的电压、电流及电阻测量；具备皮安级电流分辨率和微伏级电压分辨率。

3.数字信号测试系统：用于产生复杂的数字激励信号并捕获响应；支持高速数字通道和时序精确控制。

4.模拟与混合信号测试系统：集成高精度模拟信号源与数字化仪；用于测试数据转换器、放大器等器件的模拟性能。

5.存储器测试系统：专用于各类存储芯片的测试；支持大规模并行测试、故障诊断和冗余分析功能。

6.逻辑分析仪：用于多通道数字信号的捕获与时序分析；帮助调试复杂的数字逻辑和总线协议。

7.高性能示波器：用于观测高速信号的时域波形；具备高带宽和高采样率，可进行眼图、抖动等信号完整性分析。

8.温度试验箱：提供可控的高温、低温及温变环境；用于测试集成电路参数在不同温度条件下的稳定性与一致性。

9.可编程电源供应器：提供精确且稳定的供电电压与电流；可模拟电源波动情况以测试芯片的电源适应性。

10.探针台与测试插座：用于连接测试机台与晶圆或封装后的芯片；实现测试信号的可靠接入与传输。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。