因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.总散射检测：总积分散射测量，半球散射测量。

2.角度分辨散射检测：入射角依赖散射分析，散射空间分布测量，双向反射分布函数测量。

3.表面散射特性检测：表面粗糙度引起的散射评估，表面缺陷散射分析，表面沾染物散射检测。

4.体散射特性检测：材料内部不均匀性散射评估，膜层内部杂质散射分析，材料体吸收引起的散射测量。

5.波长相关散射检测：特定激光波长下的散射测量，宽光谱散射特性分析，紫外到红外波段的散射评估。

6.偏振相关散射检测：散射光的偏振态分析，偏振散射分布函数测量。

7.膜层界面散射检测：多层膜界面粗糙度散射评估，膜层间互扩散引起的散射分析。

8.缺陷诱导散射检测：点缺陷散射测量，划痕与裂纹引起的散射分析，颗粒污染物散射评估。

9.表面形貌与散射关联分析：基于散射数据的表面功率谱密度计算，相关长度分析。

10.环境可靠性散射测试：湿热试验前后散射对比，摩擦与磨损后的散射变化评估，辐照老化后的散射性能测试。

检测范围

增透膜、高反射膜、分光膜、滤光片、偏振片、保护窗口片、激光晶体元件、光学透镜、棱镜、平面镜、柔性光学薄膜、光学镀膜基片、半导体光刻镜头元件、红外光学薄膜、透明导电薄膜、微结构光学表面、光学涂层样板、光纤端面、发光二极管封装透镜、投影显示系统核心光学组件

检测设备

1.角度分辨散射测量仪：用于精确测量样品在不同入射和接收角度下的散射光强度分布；核心功能为获取完整的双向散射分布函数数据。

2.积分球式总散射测量系统：用于收集半球空间内的所有散射光并测量总积分散射值；适用于快速评价样品的整体散射损耗。

3.白光干涉仪：用于高精度测量样品表面的三维形貌与粗糙度；其数据可与散射测量结果进行关联分析。

4.原子力显微镜：用于纳米尺度下观测样品表面形貌与微观结构；可分析表面粗糙度细节对散射特性的影响。

5.激光散射扫描成像系统：用于对样品表面进行逐点扫描，生成散射强度的空间分布图像；可直观定位局部高散射缺陷区域。

6.偏振敏感散射测量装置：集成起偏与检偏部件，用于分析散射光偏振态随角度的变化；专门用于检测各向异性散射特性。

7.光谱散射测量系统：结合单色仪或光谱仪，用于测量散射光强度随波长的变化关系；评估散射特性的光谱依赖性。

8.高灵敏度光电探测器阵列：用于同步接收多个角度的散射光信号，提高测量效率与数据一致性。

9.精密多维样品调整台：用于精确控制样品的空间姿态与角度，确保散射测量过程中入射与接收角度的准确性。

10.洁净环境检测舱：提供受控的低颗粒洁净环境，防止空气中悬浮粒子在检测过程中附着于样品表面，干扰真实的散射测量结果。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。