因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.无机元素杂质分析：碱金属含量、碱土金属含量、过渡金属含量、重金属含量、稀土元素含量。

2.有机污染物鉴定：可挥发性有机物、半挥发性有机物、聚合物残留单体、塑化剂、抗氧化剂。

3.晶体结构完整性评估：结晶度、晶格常数、晶粒尺寸、位错密度、层错缺陷。

4.表面洁净度与污染物检测：颗粒污染、有机残留膜、无机残留物、氧化物层厚度、表面能。

5.体材料纯度分析：主体材料纯度、掺杂剂浓度与分布、氧含量、碳含量、氮含量。

6.薄膜层纯度与均匀性检测：薄膜成分纯度、厚度均匀性、界面杂质扩散、层间污染、应力状态。

7.电学性能关联纯度检测：载流子浓度、迁移率、电阻率、介电常数、漏电流特性。

8.微量气体成分分析：内部封装气氛、水汽含量、氧气含量、氢气含量、碳氧化物含量。

9.同位素丰度比测定：硅同位素比、锗同位素比、用于追溯材料来源与工艺过程。

10.微观形貌与缺陷观察：表面粗糙度、孔洞缺陷、裂纹、夹杂物、腐蚀坑。

11.热学性能关联分析：热导率、热膨胀系数、玻璃化转变温度、热分解温度。

检测范围

半导体硅片、化合物半导体外延片、晶圆、封装基板、陶瓷衬底、金属化层、焊球与焊膏、导热界面材料、引线框架、塑封料、光刻胶、高纯靶材、键合丝、绝缘膜、钝化层、电子级化学品、胶黏剂、导热硅脂、磁性材料、薄膜电阻材料

检测设备

1.二次离子质谱仪：用于对材料表面及深度方向的元素进行痕量及超痕量分析；具备极高的检测灵敏度与深度分辨率。

2.电感耦合等离子体质谱仪：用于测定溶液中极低浓度的金属与非金属杂质元素；具备多元素同时分析能力与宽广的线性范围。

3.气相色谱-质谱联用仪：用于分离与鉴定样品中复杂的有机挥发物与半挥发物；通过质谱库进行化合物定性。

4.高分辨率X射线衍射仪：用于精确分析材料的晶体结构、晶格参数、应变及缺陷；提供非破坏性的晶体质量评估。

5.全反射X射线荧光光谱仪：用于对硅片等光滑表面上的痕量金属污染进行无损检测；对表面纳米层污染极为敏感。

6.傅里叶变换红外光谱仪：用于鉴定材料中的有机官能团、化学键及微量水分、羟基等杂质；可进行定性与定量分析。

7.辉光放电质谱仪：用于对块体导电材料进行从表面到深度的元素分析；适用于高纯金属及合金的纯度检验。

8.扫描电子显微镜及能谱仪：用于观察材料的微观形貌与结构缺陷；配合能谱仪可进行微区元素成分定性及半定量分析。

9.热脱附-气相色谱质谱联用仪：专门用于捕获并分析材料在加热过程中释放出的挥发性有机污染物；可模拟工艺温度条件。

10.四探针电阻率测试仪：用于测量半导体材料及薄膜的电阻率、方块电阻；间接反映材料的掺杂浓度与纯度。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。