因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.线性尺寸测量：长度，宽度，高度，厚度，直径，距离，台阶深度。

2.形位公差测量：直线度，平面度，圆度，圆柱度，线轮廓度，面轮廓度。

3.位置公差测量：平行度，垂直度，倾斜度，位置度，同轴度，对称度。

4.微观尺寸测量：引脚间距，焊盘尺寸与间距，线宽与线距，导通孔径，槽宽。

5.角度测量：夹角，锥度，倾斜角度，分度误差。

6.螺纹参数测量：螺纹中径，螺距，牙型角，螺纹大径与小径。

7.齿轮参数测量：齿距，齿厚，公法线长度，齿圈径向跳动。

8.曲面轮廓测量：自由曲面轮廓，圆弧半径，复杂曲面三维形貌。

9.体积与面积测量：元器件体积，封装投影面积，表面积。

10.位置关系测量：孔组位置度，阵列排布间距，元件安装位置偏移。

11.粗糙度与波纹度测量：表面粗糙度轮廓算术平均偏差，轮廓最大高度，波纹度。

检测范围

集成电路芯片、贴片电阻电容、连接器与接插件、印刷电路板、精密陶瓷基板、微型传感器、手机壳体、液晶显示模组、精密金属轴件、齿轮与蜗杆、注塑成型零件、冲压金属弹片、密封圈与垫片、微型马达转子、切削刀具、模具镶块、光学透镜支架、半导体引线框架、散热鳍片、柔性电路板

检测设备

1.影像测量仪：用于二维尺寸和形位公差的快速非接触测量；结合高倍率镜头和图像处理软件，可精确捕捉元件轮廓与特征点。

2.三坐标测量机：用于复杂工件三维空间尺寸和形位公差的精密检测；通过探针接触式采样，可重建工件三维几何模型。

3.激光扫描仪：用于获取物体表面密集的三维点云数据；适用于复杂曲面、自由形状及逆向工程的高效尺寸检测。

4.轮廓测量仪：用于测量表面粗糙度、波纹度及微观轮廓形状；通过高精度探针在表面移动，记录轮廓曲线并分析参数。

5.工具显微镜：用于电子元件、细小零件的微观尺寸观测与测量；配备测微目镜或数字测量系统，可进行高倍率下的精确计量。

6.测高仪：专门用于快速、精确测量工件的高度、平面度、平行度及段差；操作简便，测量效率高。

7.光学干涉仪：利用光波干涉原理测量表面形貌、平面度及薄膜厚度；具有纳米级的高分辨率。

8.齿轮测量中心：专用于齿轮各项参数的精密检测；可自动完成齿形、齿向、齿距等多项误差的评定。

9.螺纹综合测量机：用于螺纹塞规、环规及工件螺纹的中径、螺距、牙型角等参数的综合检测。

10.大行程二维测量系统：用于印刷电路板、平板显示器件等大面积样品的尺寸与位置测量；配备大幅面移动平台和视觉系统。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。