因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.成分与元素分布分析：微区成分定性及定量分析、元素线扫描分析、元素面分布分析。

2.微观形貌与结构观察：晶粒尺寸与形貌观察、第二相粒子形貌与分布、析出相形态分析。

3.晶体结构鉴定：选区电子衍射分析、微区晶体结构标定、物相鉴定。

4.晶体学取向分析：晶粒取向测定、织构分析、菊池衍射花样分析。

5.晶界与界面分析：晶界类型与特征分析、相界面结构观察、界面位相关系确定。

6.位错与缺陷分析：位错线密度与分布观测、层错分析、孪晶界观察。

7.纳米析出相分析：纳米级析出相形貌、尺寸统计、分布均匀性评估。

8.非晶与微晶结构分析：非晶态结构确认、纳米晶尺寸测量。

9.薄膜与镀层分析：薄膜厚度测量、镀层结构观察、膜基界面分析。

10.材料失效机理分析：断裂源区微观分析、腐蚀产物鉴定、疲劳裂纹尖端结构观察。

11.相变过程研究：相变产物形貌与结构分析、相变动力学原位观察。

检测范围

各类碳钢、合金钢、不锈钢、铝合金、镁合金、钛合金、铜合金、镍基高温合金、精密合金、金属间化合物、硬质合金、金属粉末、溅射靶材、金属薄膜、电镀层、热障涂层、金属复合材料、焊接接头热影响区、失效金属零件、半导体金属互连层

检测设备

1.透射电子显微镜：利用高能电子束穿透样品，形成高分辨率显微图像与衍射花样，用于观察纳米至原子尺度的材料结构。

2.能谱仪：与透射电子显微镜联用，通过检测特征X射线对样品微区进行元素成分的定性与定量分析。

3.电子能量损失谱仪：分析穿透电子因非弹性散射损失的能量，用于轻元素分析、化学键态及电子结构研究。

4.高角环形暗场探测器：在扫描透射模式下工作，成像衬度与原子序数相关，适用于成分分布成像及原子级分辨率观察。

5.双束聚焦离子束系统：用于制备透射电子显微镜所需的特定位置的超薄样品，精度可达纳米级。

6.电解双喷减薄仪：通过电解抛光原理对金属样品进行减薄，适用于制备大面积均匀的金属薄膜透射样品。

7.离子减薄仪：使用氩离子束对样品进行轰击减薄，适用于陶瓷、多相合金等难用电解方法制备的样品。

8.超薄切片机：利用金刚石刀对软质或复合材料进行机械切片，以获取超薄样品。

9.低温样品杆：使样品在观测过程中保持低温状态，用于观察对电子束敏感或需低温保存的材料。

10.原位样品杆：可在透射电子显微镜内对样品进行加热、拉伸或通电等操作，用于动态观察材料在外部场作用下的结构演变。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。