因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.晶体结构与取向分析：晶粒尺寸与分布统计、晶体取向成像、织构分析、相鉴定。

2.微观形貌与表面分析：表面粗糙度评估、颗粒形貌观察、断面结构分析、层状结构厚度测量。

3.成分分布与均匀性分析：元素面分布成像、线扫描成分分析、特定区域点成分分析、成分偏析评估。

4.缺陷与失效分析：微裂纹检测、孔洞与夹杂物分析、界面结合状态评估、腐蚀产物鉴定。

5.相组成与相变分析：多相材料相分布成像、相含量统计、析出相形貌与分布分析。

6.纳米结构表征：纳米颗粒尺寸与分散性分析、纳米线或纳米管形貌表征。

7.涂层与薄膜分析：涂层厚度与均匀性测量、涂层与基体界面分析、薄膜微观结构观察。

8.复合材料界面分析：增强体与基体界面结合情况、界面反应层分析。

9.微区应力与应变分析：基于电子背散射衍射的应变分布测量。

10.高温或原位行为观察：材料在特定环境下的微观结构演化分析。

检测范围

金属合金样品、半导体晶圆与器件、陶瓷与耐火材料、高分子复合材料、纳米粉末与催化剂、电池正负极材料、薄膜太阳能电池材料、金属镀层与涂层试样、焊接接头与焊缝区域、纤维增强材料、矿物与地质样品、生物医用材料、光学功能薄膜、集成电路互连结构、粉末冶金制品、腐蚀后的金属试样、断口失效分析样品、热处理后的金相试样、增材制造产品

检测设备

1.场发射扫描电子显微镜：提供高亮度、小束斑的电子源，实现超高分辨率的二次电子与背散射电子成像；是进行纳米尺度形貌与成分分析的核心设备。

2.能谱仪：与电镜联用，通过检测特征X射线对样品微区进行定性与半定量成分分析；可快速绘制元素面分布图。

3.电子背散射衍射系统：采集样品产生的菊池衍射花样，用于晶体取向、晶界类型、相鉴定及应变分布的精确分析。

4.波谱仪：用于对特定元素进行精细的定量成分分析，具有较高的能量分辨率，尤其适用于轻元素或相邻元素的区分。

5.拉伸台或加热台等原位样品台：使样品在电镜内进行拉伸、加热或冷却，用于观察材料在动态过程中的微观结构演变。

6.低真空系统：允许不导电或含水样品在不喷涂导电层的条件下进行观察，减少样品制备带来的假象。

7.离子束切割与抛光仪：用于制备高质量、无应力的电镜观察截面，确保观察面能真实反映材料内部结构。

8.阴极荧光谱仪：检测电子束激发样品产生的荧光信号，用于分析半导体材料、矿物、荧光粉等的发光特性与缺陷。

9.电子通道衬度成像系统：利用背散射电子信号的角分布差异，对晶体缺陷如位错、层错等进行成像。

10.三维重构软件系统：通过对连续切片图像的采集与处理，重建样品内部结构的三维模型，用于定量分析三维空间分布。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。