因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.斑晶矿物组成分析：采用EDS能谱测定主量元素（SiO₂、Al₂O₃、FeO等）含量
2.晶体尺寸分布统计：测量长轴（50-2000μm）与短轴（30-1500μm）比例
3.结晶度指数测定：XRD半峰宽法计算结晶度（0.5-1.0标度）
4.包裹体特征分析：识别气液包裹体（直径2-50μm）及固态包裹体类型
5.双晶发育程度评估：偏光显微镜下统计双晶面密度（单位面积数量/cm）

检测范围

1.火成岩类：花岗岩、玄武岩中的长石/石英斑晶
2.变质岩类：片麻岩、大理岩中的石榴石/辉石斑晶
3.陶瓷材料：氧化铝/氧化锆基陶瓷的晶相结构
4.金属基复合材料：铝基/镁基合金增强相析出晶体
5.人工合成晶体：水热法合成α-石英单晶缺陷分析

检测方法

1.ASTME112-13平均晶粒度测定标准
2.ISO13383-1:2012显微结构表征技术规范
3.GB/T16594-2008微米级长度扫描电镜测量方法
4.GB/T17359-2012电子探针定量分析方法通则
5.ISO22262-1:2012材料中晶体取向的X射线衍射测定

检测设备

1.ZEISSSigma300场发射扫描电镜：配备BSE探测器进行晶体形貌观测
2.OxfordInstrumentsX-Max80能谱仪：元素面分布分析精度0.1wt%
3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备LynxEye阵列探测器
4.LeicaDM2700P偏光显微镜：配备LAS图像分析系统（500万像素）
5.ShimadzuEPMA-1720电子探针：波长色散谱仪（WDS）
6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
7.OlympusGX53倒置金相显微镜：配备Stream图像分析软件
8.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线荧光光谱仪
9.Agilent7900ICP-MS：痕量元素检出限达ppt级
10.JEOLJXA-8530F场发射电子探针：空间分辨率达6nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。