因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 晶体结构分析：晶格常数测定，晶系与空间群确定，原子占位分析。

2. 物相定性与定量分析：多相混合物中物相种类鉴别，各相质量分数或体积分数计算。

3. 晶粒尺寸与微观应变分析：利用衍射峰宽化效应计算平均晶粒尺寸，评估微观应变分布。

4. 结晶度测定：定量分析半结晶材料中结晶相与非晶相的相对含量。

5. 残余应力分析：测定材料表层或内部的宏观残余应力大小与方向。

6. 织构与取向分析：测定多晶材料中晶粒的择优取向分布，绘制极图与反极图。

7. 薄膜厚度与密度分析：通过X射线反射或掠入射衍射技术测定薄膜样品的厚度、密度与界面粗糙度。

8. 高温或低温原位分析：监测材料在变温过程中的相变行为、热膨胀系数及结构演化。

9. 层状结构分析：分析多层膜、粘土矿物等层状材料的层间距、堆垛有序度。

10. 固溶体成分分析：依据晶格常数变化，测定固溶体中溶质元素的浓度。

11. 纳米材料结构表征：分析纳米颗粒、纳米线的尺寸、形貌与晶体结构特性。

12. 缺陷与畸变分析：评估晶体中点缺陷、位错等引起的晶格畸变程度。

检测范围

金属粉末与合金、无机非金属陶瓷粉末、催化材料、电池正负极材料、高分子聚合物、半导体外延薄膜、矿物与地质样品、水泥与胶凝材料、药物多晶型、涂层与镀层、陶瓷釉料、玻璃材料、碳材料、磁性材料、复合材料、金属氧化物、粘土矿物、固态电解质材料

检测设备

1. X射线衍射仪：用于材料的物相分析、晶体结构解析及残余应力测定；具备高角度分辨率与高强度光源，支持常温至高温等多种样品环境。

2. 透射电子显微镜：用于观察材料的微观形貌与晶体结构；配备选区电子衍射功能，可在纳米尺度进行晶体结构分析与取向确定。

3. 扫描电子显微镜：用于观察材料表面形貌与微区成分分析；配备电子背散射衍射探头，可进行晶体取向与织构的快速表征。

4. 高分辨率X射线衍射仪：专用于单晶或外延薄膜的高精度结构分析；可精确测定薄膜的厚度、成分、应变及缺陷密度。

5. 同步辐射光源线站：提供高强度、高准直性的X射线束；用于开展时间分辨、原位环境下的高精度衍射与散射实验。

6. 小角X射线散射仪：用于分析纳米尺度（1-100纳米）的结构信息，如纳米颗粒尺寸分布、孔径分析及高分子链结构。

7. X射线反射仪：专用于薄膜和多层膜结构的表征；通过分析全反射临界角附近的振荡曲线，获取膜厚、密度与界面粗糙度。

8. 掠入射X射线衍射仪：用于薄膜、表层及界面结构的分析；通过极小的入射角增大X射线在表层的穿透路径，增强表面信号。

9. 原位样品台：为衍射仪配备的高温、低温、拉伸或气氛控制装置；用于模拟材料在实际服役或加工环境下的结构演变研究。

10. X射线能谱仪：常与电子显微镜联用；通过探测特征X射线进行元素的定性与半定量分析，辅助物相鉴定。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。