因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.光学常数测定：折射率测定，消光系数测定，介电函数分析。

2.薄膜厚度检测：单层膜厚度测量，多层膜总厚度与各层厚度解析，厚度均匀性Mapping。

3.各向异性分析：双折射率测量，光学轴取向角测定，延迟量检测。

4.组分含量分析：特定官能团含量分析，掺杂浓度测定，共混物组分比例计算。

5.表面与界面特性：表面粗糙度评估，界面层厚度与混合度分析，层间扩散效应检测。

6.均匀性与一致性检测：面内厚度均匀性扫描，光学常数分布图，缺陷与污染点识别。

7.光学带隙与能级结构：吸收边确定，直接与间接带隙计算，Urbach能量分析。

8.应力与应变分析：光学方法测量薄膜内应力，应力引起的双折射变化检测。

9.动力学过程监测：溶胀过程监测，溶剂扩散系数测定，固化过程实时追踪。

10.光学色散关系建模：柯西模型拟合，塞尔迈耶尔模型拟合，洛伦兹振子模型分析。

11.偏振特性分析：偏振相关损耗测量，偏振态变化分析。

检测范围

聚合物薄膜、光学胶涂层、液晶取向层、有机发光二极管功能层、光伏电池封装材料、防眩光涂层、增透减反膜、硬质保护涂层、柔性显示基板、光刻胶、光学级压敏胶、各向异性导电胶膜、偏光片、波导材料、半导体钝化层、药物缓释薄膜、食品包装阻隔涂层、汽车玻璃贴膜、建筑节能窗膜、装饰性镀膜

检测设备

1.光谱椭偏仪：用于测量材料在不同波长下的椭圆偏振参数，是获取光学常数与薄膜厚度的核心设备；具备宽光谱范围和高角度分辨率。

2.激光椭偏仪：采用单波长激光光源，提供极高的测量精度和空间分辨率；常用于超薄膜检测和精密过程控制。

3.成像椭偏仪：结合椭偏测量与显微成像技术，可对样品微区进行快速、高分辨率的二维Mapping测量。

4.穆勒矩阵椭偏仪：能够测量完整的穆勒矩阵，用于全面分析各向异性、 depolarization 等复杂光学性质。

5.分光光度计：测量样品的透射率与反射率光谱，作为椭偏数据的补充验证，并用于计算光学带隙。

6.偏光显微镜：直观观察样品的双折射现象、织构与缺陷，进行定性或半定量分析。

7.相位调制型椭偏仪：采用光电调制技术，具备高速测量能力，适用于动态过程监测。

8.傅里叶变换红外光谱仪：通过红外吸收光谱分析材料中的化学键与官能团，用于组分定性与定量分析。

9.白光干涉仪：独立测量薄膜的物理台阶高度与表面形貌，为光学厚度测量提供物理基准校准。

10.在线监测式椭偏系统：集成于镀膜或涂布生产线，用于工艺过程中的实时、非接触厚度与光学常数监控。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。