因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.电气性能参数：静态工作电流、动态工作电流、待机功耗、输入输出电平电压、漏电流、驱动能力。

2.信号完整性分析：信号上升时间、下降时间、过冲、下冲、建立时间、保持时间、时钟抖动。

3.功能逻辑验证：全功能向量测试、扫描链测试、内建自测试、边界扫描测试、存储器内建自测试。

4.直流参数测试：电源引脚对地电阻、输入引脚漏电、输出引脚短路电流、供电电压容限。

5.交流参数测试：传输延迟、最高工作频率、存取时间、建立保持时间窗口。

6.模拟与混合信号性能：信噪比、总谐波失真、有效位数、增益误差、偏移误差、共模抑制比。

7.环境适应性测试：低温工作测试、高温工作测试、温度循环测试、温度冲击测试。

8.可靠性寿命评估：高温高湿偏压测试、高温寿命试验、温度循环耐久测试、功率温度循环测试。

9.电源适应性测试：电源电压波动测试、电源时序测试、瞬时掉电测试、浪涌电流测试。

10.电磁兼容预评估：传导发射预测试、辐射发射预测试、静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度。

11.封装与机械性能：引脚共面性、焊接强度、芯片剪切强度、温度循环后内部结构声学扫描。

12.软件与系统兼容性：驱动程序兼容性验证、固件烧录与运行测试、与主处理器间通信协议一致性。

检测范围

中央处理器、图形处理器、微控制器、数字信号处理器、现场可编程门阵列、存储器芯片、电源管理芯片、射频收发芯片、模拟数字转换器、数字模拟转换器、运算放大器、接口芯片、传感器信号调理芯片、驱动芯片、安全加密芯片

检测设备

1.自动测试系统：用于执行芯片的电气参数、功能与速度测试；可编程生成测试向量并采集响应信号。

2.高性能示波器：用于精确测量芯片引脚上的高速信号波形；分析信号完整性及时序参数。

3.逻辑分析仪：用于捕获和显示芯片多路数字信号的状态与时序关系；进行数字系统的逻辑功能调试。

4.高低温试验箱：用于为芯片提供精确可控的高温、低温或温度循环环境；考核其温度适应性。

5.精密直流电源：为芯片测试提供稳定且可精确编程的电压与电流；用于供电测试及功耗测量。

6.参数分析仪：用于芯片晶圆或封装后器件的精密直流参数测量；可测试晶体管级特性。

7.频谱分析仪：用于分析芯片射频或高速数字输出信号的频域特性；评估频谱纯度与杂散。

8.静电放电模拟器：用于模拟人体或设备放电模型对芯片引脚施加静电脉冲；评估其抗静电能力。

9.老化试验系统：用于在高温及加电条件下对芯片进行长时间持续测试；评估其早期失效与长期可靠性。

10.声学扫描显微镜：用于对封装后的芯片进行非破坏性内部成像；检测分层、空洞等封装缺陷。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。