因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.衍射效率测定：零级衍射效率，各级次衍射效率，绝对衍射效率，相对衍射效率，峰值衍射效率。

2.波长响应分析：中心工作波长，谱段响应范围，不同波长效率变化，带宽特性，波长选择性。

3.角度特性测试：入射角响应，出射角分布，角度容差，偏转角稳定性，角度匹配特性。

4.偏振相关性能检测：不同偏振态效率差异，偏振敏感性，偏振选择性，偏振一致性，偏振依赖变化。

5.级次分布评估：衍射级次数量，级次能量分配，主级次占比，杂散级次响应，级次抑制能力。

6.光谱均匀性检测：面内效率均匀性，位置一致性，区域响应差异，局部异常分布，批次稳定性。

7.表面结构关联分析：周期尺寸影响，槽形参数关联，结构深度影响，占空比响应，表面缺陷影响。

8.透射反射性能测试：透射衍射效率，反射衍射效率，透过率变化，反射率变化，能量损耗分析。

9.杂散光与背景响应检测：杂散光水平，背景噪声影响，非目标级次泄漏，散射分量，杂光抑制效果。

10.环境适应性分析：温度变化下效率稳定性，湿度影响，冷热循环后响应变化，光照后性能保持性，存放稳定性。

11.重复性与再现性检验：重复测量偏差，位置复测一致性，装夹影响，批内重复性，批间再现性。

12.成像与耦合性能评价：光束分束效果，聚焦衍射响应，耦合效率变化，波前调制效果，功能输出一致性。

检测范围

衍射光栅、全息光学元件、表面浮雕光学片、体相位光学元件、微结构分束片、衍射透镜、衍射波导耦合片、光束整形元件、微纳周期薄膜、反射型衍射元件、透射型衍射元件、相位型光学片、振幅型光学片、复合衍射元件、微结构显示光学片、激光衍射元件、光通信耦合元件、传感用衍射芯片

检测设备

1.光谱测量仪：用于测定不同波长条件下的光强分布与效率变化，适用于光谱响应和带宽分析。

2.衍射效率测试系统：用于测量各衍射级次的能量占比，可实现绝对效率与相对效率评估。

3.角度扫描平台：用于调节入射角和接收角位置，完成角度特性、容差范围及方向响应测试。

4.偏振态分析装置：用于控制和识别不同偏振状态下的光学响应，评估偏振相关性能差异。

5.激光光源装置：用于提供稳定单色光照射条件，支持效率测定、级次分析和角度响应试验。

6.光功率计：用于测量入射光和衍射光功率，计算能量分配关系和衍射效率参数。

7.成像检测系统：用于观察衍射光斑形貌、位置分布和强度特征，辅助判断级次输出状态。

8.显微形貌测量仪：用于测定微结构周期、深度及表面形貌参数，分析结构特征与光学性能关系。

9.表面轮廓测量仪：用于获取沟槽轮廓和高度信息，支持结构一致性和加工质量分析。

10.环境试验装置：用于模拟温度、湿度等外部条件变化，考察样品在不同环境下的性能稳定性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。