因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.磁性颗粒含量：磁性颗粒总量，单位质量磁性杂质含量，单位面积磁性颗粒数量。

2.磁学响应特性：弱磁响应颗粒，强磁响应颗粒，剩磁表现，磁化响应差异。

3.颗粒尺寸分析：大颗粒杂质，中等颗粒杂质，微细颗粒杂质，粒径分布范围。

4.颗粒形貌观察：点状杂质，片状杂质，针状杂质，不规则杂质形态。

5.空间分布检测：表层磁性杂质，近表层磁性杂质，内部磁性杂质，局部聚集区分布。

6.夹杂缺陷识别：金属夹杂，熔制残留夹杂，加工引入夹杂，复合型磁性异物。

7.表面洁净度检测：表面附着磁性颗粒，抛光残留磁性碎屑，切割残留颗粒，清洗后残留异物。

8.原料纯净度评估：配合料磁性异物，熔块磁性杂质，原料中铁质颗粒，投料污染物。

9.加工过程污染检测：研磨污染，切削污染，磨具带入杂质，工装接触污染。

10.光学影响评估：透过区域杂质干扰，散射风险点，成像缺陷关联杂质，局部遮挡颗粒。

11.均匀性检测：不同区域磁性杂质差异，批次内分布均匀性，同片位置偏差，多片一致性。

12.缺陷等级划分：可见磁性异物，不可见微细异物，关键区域缺陷，非关键区域缺陷。

检测范围

光学玻璃原料、熔制玻璃块、光学玻璃毛坯、光学玻璃板材、光学玻璃圆片、透镜坯料、棱镜坯料、窗口玻璃、滤光玻璃、高透光玻璃、低膨胀光学玻璃、激光用玻璃、成像用玻璃、抛光光学玻璃、镀膜前光学玻璃、切割后玻璃样品、研磨后玻璃样品、清洗后玻璃样品

检测设备

1.磁性颗粒分选装置：用于分离样品中的磁响应颗粒，辅助统计磁性杂质数量及分布特征。

2.显微观察仪：用于观察磁性杂质的尺寸、形貌及所在位置，适合表面与局部区域缺陷识别。

3.金相制样设备：用于样品切片、镶嵌与磨抛处理，便于开展内部磁性夹杂观察。

4.颗粒计数仪：用于统计微细颗粒数量及粒径区间，支持杂质含量分级分析。

5.图像分析系统：用于对杂质形态、面积占比、分布密度进行量化处理，提高结果一致性。

6.表面缺陷检测仪：用于识别表面附着颗粒、划伤伴生杂质及局部污染区域。

7.元素分析仪：用于分析磁性杂质的元素组成，辅助判定异物来源及类别。

8.内部缺陷扫描装置：用于检测玻璃内部夹杂、气泡伴生异物及埋藏型磁性颗粒。

9.洁净清洗设备：用于去除可脱附表面颗粒，配合评估清洗前后磁性残留变化。

10.透光检测装置：用于观察杂质对透过状态、散射表现及成像区域均匀性的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。