因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.光谱透过性能：透过率，吸收系数，截止波长。

2.光谱反射性能：反射率，反射谱平坦性，反射峰位置。

3.折射率特性：折射率，色散系数，双折射。

4.光学常数：消光系数，复折射率，光学带隙估算。

5.表面粗糙度光学影响：散射损耗，表面粗糙度参数，散射角分布。

6.薄膜厚度与均匀性：膜厚，厚度均匀性，厚度梯度。

7.薄膜应力光学效应：应力致折射变化，应力分布，膜内残余应力。

8.缺陷与杂质光学响应：缺陷密度，杂质吸收峰，缺陷散射强度。

9.表面形貌光学影响：划痕密度，孔洞分布，颗粒污染。

10.耐光稳定性：光致变化，透过衰减，反射漂移。

11.温度相关光学性能：温度系数，热致折射变化，热稳定性。

12.偏振相关特性：偏振透过比，偏振反射比，相位延迟。

检测范围

氮化硅光学薄膜、氮化硅窗口片、氮化硅光学基片、氮化硅波导片、氮化硅涂层玻璃、氮化硅镀膜晶圆、氮化硅光学滤片、氮化硅反射膜、氮化硅抗反射膜、氮化硅保护层、氮化硅光学器件半成品、氮化硅多层膜结构、氮化硅微结构样品、氮化硅光学封装件、氮化硅集成光学片

检测设备

1.分光光度计：测量透过率与吸收光谱，评估光谱响应。

2.反射率测量系统：获取反射光谱与反射率曲线。

3.椭偏仪：测定膜厚与光学常数，分析折射率变化。

4.散射测量装置：评估散射损耗与散射角分布。

5.表面轮廓仪：测量表面粗糙度与形貌特征。

6.光学显微镜：观察表面缺陷与颗粒污染。

7.原子力显微镜：高分辨获取表面形貌与粗糙度。

8.膜厚测量仪：测定薄膜厚度与均匀性分布。

9.温控光学测试平台：评估温度相关光学参数变化。

10.偏振测量系统：测量偏振透过与相位延迟特性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。