因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.透射性能：透过率，透射均匀性，透射波动

2.反射性能：反射率，反射均匀性，反射波动

3.吸收特性：吸收系数，吸收均匀性，吸收稳定性

4.散射特性：散射强度，散射分布，散射各向异性

5.折射特性：折射率，折射率均匀性，色散系数

6.表面形貌：表面粗糙度，表面波纹，表面缺陷分布

7.缺陷检测：微裂纹，针孔，夹杂物

8.厚度测定：厚度均匀性，局部厚差，厚度稳定性

9.应力评估：残余应力，双折射，应力分布

10.光学均匀性：光学均匀性评价，均匀性波动，均匀性偏差

11.界面质量：界面平整度，界面缺陷，界面污染

12.耐光性：光照稳定性，光致变化，性能衰减

检测范围

氮化硅陶瓷基片、氮化硅光学窗口片、氮化硅薄膜、氮化硅涂层样品、氮化硅光学镜片、氮化硅透镜胚料、氮化硅晶圆片、氮化硅光学滤光片基材、氮化硅导光片、氮化硅光学保护盖板、氮化硅微结构光学器件、氮化硅光学衬底、氮化硅光学组件、氮化硅透明陶瓷样品、氮化硅光学封装材料

检测设备

1.光谱透射测量仪：用于测定透过率与透射均匀性

2.光谱反射测量仪：用于测定反射率与反射波动

3.积分球测量系统：用于评估散射与总透射特性

4.椭偏测量仪：用于测定薄膜折射率与厚度

5.表面形貌测量仪：用于获取粗糙度与表面波纹信息

6.显微成像系统：用于观察微裂纹与夹杂缺陷

7.干涉测量仪：用于测定面形与厚度均匀性

8.偏振成像设备：用于评估应力分布与双折射

9.色散测量装置：用于获取色散系数与折射变化

10.光致稳定性测试设备：用于评估耐光性与性能衰减

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。