因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.外形尺寸检测：长度，宽度，高度，厚度，直径，边长。

2.截面尺寸检测：壁厚，槽宽，槽深，台阶高度，圆角尺寸，倒角尺寸。

3.孔系尺寸检测：孔径，孔深，孔距，孔位偏差，沉孔尺寸，通孔尺寸。

4.配合尺寸检测：内径，外径，配合间隙，配合长度，嵌合尺寸，定位尺寸。

5.形状偏差检测：圆度，圆柱度，直线度，平面度，轮廓度，同轴度。

6.位置偏差检测：平行度，垂直度，对称度，位置度，同心度，倾斜度。

7.边缘精度检测：边缘直线度，棱边完整度，倒角均匀性，边角尺寸偏差，切边偏差，修边尺寸。

8.面形尺寸检测：表面平整度，翘曲度，拱曲度，凹陷深度，凸起高度，面间高度差。

9.厚度均匀性检测：单点厚度，多点厚度差，边部厚度，中部厚度，局部薄厚变化，整体厚度均匀性。

10.装配相关尺寸检测：接触面尺寸，定位孔尺寸，安装边距，拼接缝尺寸，卡槽尺寸，接口尺寸。

11.规则阵列尺寸检测：节距，阵列间距，重复孔位偏差，排列偏移量，单元尺寸一致性，阵列边界尺寸。

12.批次尺寸一致性检测：平均尺寸，尺寸波动范围，极差，偏差分布，合格尺寸比例，关键尺寸稳定性。

检测范围

陶瓷砖、陶瓷板、陶瓷片、陶瓷管、陶瓷棒、陶瓷环、陶瓷基板、陶瓷垫片、陶瓷轴套、陶瓷阀片、陶瓷密封件、陶瓷喷嘴、陶瓷球、陶瓷坩埚、陶瓷绝缘子、陶瓷衬板、陶瓷过滤片、陶瓷蜂窝体

检测设备

1.游标卡尺：用于测量外径，内径，长度，宽度和厚度等基础尺寸，适用于常规几何尺寸快速检测。

2.千分尺：用于高精度厚度和外径测量，适合对关键尺寸进行精细检测。

3.高度尺：用于测量高度，台阶差和孔位坐标，适用于平面基准上的尺寸判定。

4.深度尺：用于测量孔深，槽深和凹位深度，可用于局部结构尺寸检测。

5.内径量具：用于测量内孔尺寸和内壁配合尺寸，适合环形或管状陶瓷制品检测。

6.外径量具：用于测量圆柱类和环类制品外部尺寸，可对直径一致性进行判定。

7.影像测量仪：用于非接触测量轮廓尺寸，孔位尺寸和边缘尺寸，适合小型或脆性陶瓷样品检测。

8.三坐标测量仪：用于复杂结构尺寸及形位偏差检测，可实现多点坐标采集与空间尺寸分析。

9.平面度检测平台：用于评估样品平整程度和平面基准状态，适用于板状和片状陶瓷制品检测。

10.轮廓测量仪：用于测量表面轮廓，台阶结构和曲面尺寸，可分析局部外形偏差与截面形貌。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。