因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.微观形貌观察：颗粒形状，表面结构，团聚状态，边缘特征，孔隙形貌。

2.粒径与分布分析：颗粒粒径，粒径区间，粒度分布，粗细颗粒比例，异常大颗粒识别。

3.纯度表征分析：主体相含量特征，杂质颗粒识别，异相分布，混入物观察，表面附着物判别。

4.元素组成分析：主要元素组成，微区元素分布，局部富集现象，痕量杂质特征，对比区域成分差异。

5.颗粒分散状态检测：颗粒分散均匀性，团聚程度，二次聚集现象，分散缺陷，局部堆积状态。

6.表面洁净度检测：表面残留物，附着杂质，污染颗粒，表面沉积，清洁程度特征。

7.夹杂与异物分析：无机夹杂，金属异物，非金属异物，外来颗粒，异常区域识别。

8.孔隙与致密性分析：孔隙数量，孔径特征，孔隙分布，局部疏松区域，致密程度。

9.层状与界面结构分析：涂层厚度，层间结合界面，界面缺陷，分层现象，界面成分变化。

10.破碎与断口特征分析：断口形貌，裂纹扩展痕迹，脆性特征，韧性特征，局部剥离状态。

11.晶粒与组织特征分析：晶粒形态，组织均匀性，相区分布，局部粗化现象，微观结构差异。

12.含量对比分析：不同区域成分对比，不同批次颗粒差异，表层与内部成分差异，主次成分比例特征，异常样品对比。

检测范围

金属粉末、陶瓷粉末、矿物粉体、催化材料、功能填料、电池材料、涂层材料、薄膜材料、纳米颗粒、复合粉体、颜料颗粒、抛光粉、石墨材料、硅基材料、氧化物粉体、碳酸盐粉体、硫酸盐粉体、树脂颗粒

检测设备

1.扫描电子显微镜：用于观察样品表面微观形貌，分析颗粒形状、表面结构与团聚状态。

2.透射电子显微镜：用于表征样品内部超微结构，观察细小颗粒、晶体结构与界面特征。

3.能谱分析仪：用于开展微区元素组成分析，识别杂质元素及局部成分分布特征。

4.聚焦离子束制样系统：用于微区截面加工与薄片制备，辅助界面结构和局部缺陷分析。

5.离子溅射仪：用于样品表面导电处理，改善非导电样品成像效果并减少电荷干扰。

6.超声分散仪：用于样品前处理，改善粉体分散状态，降低颗粒团聚对观察结果的影响。

7.真空干燥设备：用于样品干燥与保存，减少水分和挥发性残留对显微观察的干扰。

8.金相切割设备：用于块状样品切割取样，便于后续截面观察和局部区域分析。

9.精密研磨抛光设备：用于样品表面制备，获得平整观察面，提高界面和组织分析质量。

10.图像分析系统：用于颗粒尺寸统计、面积测量、孔隙计算及形貌参数定量处理。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。