因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.主成分含量：氮化硅含量测定，总硅含量测定，总氮含量测定。

2.杂质元素分析：铁含量测定，铝含量测定，钙含量测定，镁含量测定。

3.痕量金属杂质：钠含量测定，钾含量测定，钛含量测定，锰含量测定。

4.非金属杂质检测：氧含量测定，碳含量测定，硫含量测定，氯含量测定。

5.游离相分析：游离硅测定，游离碳测定，未反应相含量测定。

6.挥发与灼烧特性：水分测定，挥发分测定，灼烧减量测定。

7.酸碱不溶物检测：酸不溶物测定，碱不溶物测定，可溶性盐含量测定。

8.颗粒特征分析：粒度分布测定，比表面积测定，颗粒形貌观察。

9.物相组成分析：晶相组成测定，结晶程度分析，相对含量分析。

10.均匀性评价：批次成分均匀性测定，样品离散性分析，混合均匀度评估。

11.工艺残留检测：残余氧化物测定，残余助剂含量测定，残余反应副产物测定。

12.稳定性测试：吸湿性测定，储存稳定性观察，受热变化特征分析。

检测范围

氮化硅粉体、氮化硅原料粉、氮化硅造粒粉、氮化硅喷雾干燥粉、氮化硅混合料、氮化硅成型坯料、氮化硅烧结体、氮化硅陶瓷基材、氮化硅结构陶瓷、氮化硅陶瓷球、氮化硅陶瓷轴承件、氮化硅陶瓷密封件、氮化硅陶瓷基片、氮化硅反应烧结制品、氮化硅热压制品、氮化硅工艺中间产物

检测设备

1.电感耦合等离子体发射光谱仪：用于测定多种金属元素含量，适合主量及杂质元素分析。

2.电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量元素检测，具备较高灵敏度，适用于低含量杂质筛查。

3.氧氮分析仪：用于测定样品中的氧和氮含量，可评价主成分组成及非金属杂质水平。

4.碳硫分析仪：用于测定碳和硫含量，适用于工艺残留及杂质控制分析。

5.激光粒度仪：用于测定颗粒粒径及分布情况，可评价粉体分散性与粒度均匀性。

6.比表面积分析仪：用于测定样品比表面积及孔结构特征，适合粉体表面特性分析。

7.射线衍射仪：用于分析样品晶相组成与物相相对含量，适用于相结构鉴别。

8.扫描电子显微镜：用于观察颗粒形貌、团聚状态及微观结构特征。

9.热重分析仪：用于测定水分、挥发分及受热质量变化，适合热稳定性研究。

10.电子天平：用于样品称量与质量变化测定，是纯度试验中基础计量设备。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。