因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.元素杂质检测：金属杂质含量，痕量元素含量，主量元素组成，元素分布分析。

2.有害物质限量检测：受限有害元素，卤素含量，总有机碳，挥发性残留物。

3.表面污染物检测：离子污染物，颗粒污染物，表面残留盐分，表面有机残留。

4.材料纯度检测：基体纯度，杂相含量，非目标成分占比，微量残渣含量。

5.化学残留检测：清洗剂残留，蚀刻残留，助剂残留，溶剂残留。

6.气体成分检测：工艺气体纯度，痕量水分，痕量氧含量，杂质气体含量。

7.薄膜成分检测：薄膜元素组成，膜层厚度均匀性，界面成分变化，膜层杂质水平。

8.封装材料限量检测：封装树脂中杂质，焊接材料中有害成分，引线材料成分，粘结材料残留物。

9.离子迁移相关检测：可溶性离子含量，氯离子含量，钠离子含量，钾离子含量。

10.颗粒与洁净度检测：微粒数量，粒径分布，洁净度等级，异物种类识别。

11.水质限量检测：超纯水离子含量，电阻率相关指标，颗粒物含量，有机物痕量。

12.失效污染溯源检测：异常沉积物成分，腐蚀产物分析，污染来源识别，残留物定性定量。

检测范围

半导体硅片、外延片、光刻胶、掩膜版、晶圆、芯片、芯片封装体、键合丝、引线框架、焊料、封装树脂、基板、陶瓷封装材料、导电胶、绝缘胶、清洗液、蚀刻液、工艺气体、超纯水、电子特气管路沉积物

检测设备

1.电感耦合等离子体发射光谱仪：用于测定材料中多种元素含量，适合主量及部分微量元素分析。

2.电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量及超痕量金属元素检测，适合高纯半导体材料杂质分析。

3.离子色谱仪：用于检测阴离子和阳离子含量，常用于表面离子污染及超纯水分析。

4.气相色谱仪：用于分离和测定挥发性有机成分，可用于溶剂残留与有机污染物检测。

5.液相色谱仪：用于分析不易挥发或热不稳定化合物，适合化学残留物定量分析。

6.扫描电子显微镜：用于观察表面形貌与颗粒分布，可辅助识别微区污染与沉积特征。

7.能谱分析仪：用于微区元素定性与半定量分析，常配合显微观察开展异物成分识别。

8.傅里叶变换红外光谱仪：用于识别有机物及部分无机官能团，可用于表面残留与粘结材料分析。

9.总有机碳分析仪：用于测定水样或提取液中的有机碳含量，适合洁净介质污染控制评价。

10.激光粒子计数器：用于检测颗粒数量和粒径分布，适合洁净度及微粒污染水平评估。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。