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通信设备可靠性检测

原创版权 0 关键字:通信设备可靠性检测,第三方检测机构,中析研究所 相关: 发布时间: 2025-09-29 08:28:53

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检测项目

1.恒定湿热:温度85℃、湿度85%RH,持续1000h,绝缘电阻变化率、介电强度保持率、外观腐蚀评级、功能指标漂移量。

2.交变湿热:高温55℃/低温25℃循环,湿度93%RH,循环10次,涂层附着力下降值、密封胶条压缩永久变形、射频插损增量。

3.高温老化:温度105℃、125℃、150℃三档梯度,各持续168h,半导体结温裕度、焊点剪切强度衰减、导热硅脂挥发率。

4.低温存储:温度-55℃、-65℃,持续96h,塑料件脆化温度、液晶响应时间、电池放电容量保持率、橡胶密封圈低温回弹。

5>温度循环:-40℃↔+85℃,温变率10℃/min,循环200次,印制板通孔裂纹扩展、BGA焊球疲劳寿命、结构件热错配应力。

6.盐雾腐蚀:中性盐雾5%NaCl,35℃,连续喷雾48h、96h、240h,镀层孔隙率、基材锈蚀面积、接触电阻升高倍数。

7.混合气体腐蚀:H₂S10ppb、SO₂100ppb、NO₂200ppb、Cl₂10ppb,25℃/75%RH,20天,银迁移程度、镀金层孔隙腐蚀、光学插损增量。

8.防尘防水:IP5X防尘8h、IP6X防尘2h,IPX4摆管溅水10min、IPX7浸水30min、IPX81.5m30min,壳体负压抽气、光学窗口雾度。

9.机械冲击:半正弦波30g、11ms,三轴六向各3次,功能中断时间、陶瓷介质微裂纹、连接器插针偏移。

10.振动疲劳:正弦扫频5-500Hz,加速度2g,三轴各2h;随机振动功率谱密度0.04g²/Hz,20-2000Hz,5h,共振频率漂移、紧固件松脱力矩。

11.自由跌落:高度1.0m、1.2m、1.5m,六面四棱一角各2次,壳体开裂长度、电池变形量、屏幕亮点缺陷。

12.插拔寿命:射频连接器500次、高速电连接器10000次、光纤连接器1000次,接触电阻增量、插拔力曲线、光纤端面划痕。

13.静电放电:接触放电±8kV、空气放电±15kV,200次,功能重启次数、射频失锁概率、内存数据错误位数。

14.辐射抗扰:电场强度10V/m,频率80MHz-6GHz,1kHz正弦波80%调幅,误码率升高倍数、音频输出信噪比下降。

15.传导抗扰:射频电压3V、10V,频率150kHz-80MHz,电源端口与信号端口分别注入,时钟抖动增量、复位阈值漂移。

16.辐射骚扰:30MHz-6GHz,准峰值与平均值检波,天线端口、壳体缝隙、PCB关键走线,超标频点裕量。

17.传导骚扰:150kHz-30MHz,电源端与电信端,准峰值与平均值,谐波电流限值、电压波动与闪烁。

18.电压跌落与短时中断:0%、40%、70%额定电压,持续1周期至5s,重启次数、数据保持完整性、时钟偏差。

19.浪涌抗扰:线-线±1kV、线-地±2kV,1.2/50μs-8/20μs组合波,10次,绝缘击穿电压、压敏电压变化率。

20.电快速瞬变:±2kV、±4kV,5/50ns,5kHz、100kHz重复频率,1min,功能误判次数、通信丢包率。

21.加速寿命:阿伦尼乌斯模型,结温125℃,激活能0.7eV,推算25℃下10年失效率,早期失效剔除率。

22.高加速应力:HAST130℃/85%RH/33.3psig,96h,塑封器件分层、键合线腐蚀、漏电流增量。

23.功率循环:IGBT模块ΔTj=100℃,循环5万次,热阻升高百分比、焊料层空洞扩展。

24.紫外老化:波长340nm,辐照度0.89W/m²,60℃黑板温度,8h光照/4h冷凝,200h,色差ΔE、拉伸强度保持率。

25.氙灯老化:102min光照/18min喷淋,0.55W/m²@340nm,500h、1000h,壳体粉化等级、透镜透光率下降。

检测范围

1.宏基站射频单元:64通道大规模阵列天线、滤波器、功率放大器、数字收发板、电源模块、散热齿板、腔体结构件。

2.小基站整机:4通道/8通道金属腔体、塑料外壳、内置天线、以太网供电端口、内置锂电池、防雷板。

3.微波回传设备:ODU室外单元、IDU室内单元、抛物面天线、波导管、射频同轴跳线、千兆以太网接口。

4.光传输系统:10G/25G/100G光模块、SFP封装、QSFP封装、波分复用器、光纤活动连接器、铠装光缆组件。

5.核心网服务器:ATCA刀片、冗余电源、高速背板、时钟同步板、散热风扇框、硬盘托架、金属导轨。

6.电源与配电:48V通信电源、UPS锂电池组、PDU配电单元、防雷器、汇流排、绝缘监测模块、铝型材壳体。

7.室外机柜:双层隔热壁板、聚氨酯密封胶条、户外锁具、散热百叶、防雷接地铜排、航空插头、锂电池仓。

8.天馈系统附件:射频同轴电缆、7/16型连接器、N型连接器、避雷器、接地卡具、玻璃钢天线罩、夹码支架。

9.终端类设备:CPE客户前置设备、5G工业模组、物联网表计、车载T-Box、金属后盖、塑料前壳、内置天线支架。

10.结构件与材料:压铸铝散热器、锌合金屏蔽腔、不锈钢紧固件、导电橡胶条、导热垫片、PC/ABS外壳、陶瓷基板。

11.高速连接器:高速背板连接器、板对板连接器、高速线缆组件、差分对阻抗、壳体镀层、塑料高温料。

12.防雷与接地:压敏电阻、气体放电管、TVS二极管、铜排、镀锡铜编织线、接地夹、铝热焊接头。

13.热管理部件:热管、均温板、散热风扇、导热硅脂、相变材料、石墨片、铝合金翅片、铜基板。

14.防护涂层:三防漆、聚氨酯涂层、镀镍层、镀锡层、阳极氧化膜、达克罗涂层、电泳漆膜。

15.包装运输单元:蜂窝纸箱、EPP缓冲垫、防静电袋、干燥剂、运输托盘、捆绑带、跌落角标识。

检测标准

国际标准:

IEC60068-2-1、IEC60068-2-2、IEC60068-2-14、IEC60068-2-30、IEC60068-2-78、IEC60068-2-52、IEC61373、IEC61000-4-2、IEC61000-4-3、IEC61000-4-4、IEC61000-4-5、IEC61000-4-6、IEC61000-4-11、IEC61000-4-29、IEC60529、IEC62262、IEC60721-3-3、IEC61587-1、IEC62368-1、IEC60950-1、TelcordiaGR-63-CORE、TelcordiaGR-1089-CORE、ETSIEN300019-2-3、ETSIEN301489-1、MIL-STD-810H、MIL-STD-883K、JESD22-A104D、JESD22-A110D、JESD22-A118

国家标准:

GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB/T2423.22、GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.18、GB/T21563、GB/T17626.2、GB/T17626.3、GB/T17626.4、GB/T17626.5、GB/T17626.6、GB/T17626.11、GB/T17626.29、GB/T4208、GB/T20138、GB/T4798.3、GB/T18663.1、GB4943.1、YD/T1537、YD/T1082、YD/T1312.1、YD/T1595.1、YD/T2868、YD/T322、YD/T2379、YD/T5026、QX/T10.1、TB/T3058

检测设备

1.步入式高低温湿热试验箱:容积12m³,温度范围-70℃~+150℃,湿度5%RH~98%RH,温变速率5℃/min,支持组串式逆变器整机测试。

2.快速温度变化箱:容积1m³,-55℃~+125℃,15℃/min线性,四通道在线监测射频指标,适用于5G小基站。

3.盐雾试验箱:中性、酸性、铜加速三种模式,容积0.8m³,可编程喷雾与干燥循环,满足IEC60068-2-52严酷度要求。

4.混合气体腐蚀箱:四气体独立质量流量控制,ppb级浓度精度,容积300L,支持20天连续试验,光学窗口在线透过率监测。

5.防尘试验箱:粉尘类型A类、D类,负压抽气系统-20kPa,滑石粉循环次数可控,自动粉尘回收。

6.防水试验系统:IPX1-IPX9K全覆盖,6.3MPa高压高温喷嘴,转速5r/min,支持航空插头水下插拔。

7.三轴电磁振动台:正弦推力30kN,随机推力24kN,频率2-3000Hz,位移100mmp-p,水冷式,支持通信机柜满载测试。

8.机械冲击台:半正弦、后峰锯齿、梯形波,最大加速度500g,脉宽0.2-30ms,气动提升,可测陶瓷滤波器。

9.跌落试验机:最大负载100kg,跌落高度2m,面棱角自动识别,大理石底板厚度30mm,5GCPE整机跌落。

10.静电放电发生器:输出电压0.2-30kV,接触放电、空气放电、间接放电,内置IEC标准程序,自动判定功能降级。

11.射频辐射抗扰系统:80MHz-6GHz,场强1-30V/m,1kHz正弦波80%调幅,均匀域尺寸1.5×1.5m,支持OTA测试。

12.传导抗扰测试系统:150kHz-230MHz,注入功率150W,CDN、EM钳、电流钳三种耦合方式,四线制信号注入。

13.浪涌发生器:1.2/50μs-8/20μs组合波,最高6kV/3kA,内置三相五线耦合去耦网络,支持48V通信电源端口。

14.电快速瞬变脉冲群发生器:0.2-4.8kV,5/50ns,1kHz-1MHz重复频率,内置耦合夹,支持千兆以太网信号线。

15.高加速寿命试验箱:温度-100℃~+200℃,湿度可控,六自由度随机振动,液冷式,支持HASS剖面开发。

16.氙灯老化试验箱:0.25-0.65W/m²@340nm,黑板温度25-100℃,喷淋周期可调,满足ASTMG155循环1。

17.紫外老化试验箱:UVA-340灯管,辐照度0.3-1.55W/m²,冷凝温度50℃,满足IEC60068-2-5。

18.高加速应力测试箱:110-150℃,湿度75-85%RH,压力0.12-0.23MPa,支持96hHAST,塑封器件分层检测。

19.功率循环测试台:最大电流1000A,电压100V,加热冷却切换<1s,结温红外实时采集,IGBT模块寿命评估。

20.插拔寿命试验机:纵向力10-200N,行程0-50mm,频率1-60次/分,支持射频连接器、光纤连接器同时测试。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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