因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.基础介电参数分析：介电常数，介质损耗角正切，体积电阻率，表面电阻率。

2.辐射诱导介电性能变化：辐照后介电常数偏移量，辐照后介质损耗谱变化，辐射诱导电导率变化。

3.频率特性分析：宽频介电谱，介电弛豫时间分布，介电弛豫强度。

4.温度-辐射耦合效应分析：变温辐照下介电性能演变，热辐射协同老化评估。

5.介电击穿性能：辐射环境下的介电击穿场强，击穿寿命统计。

6.空间电荷特性：辐射场中空间电荷注入与积聚行为，电荷分布与消散动力学。

7.微观结构关联分析：介电性能变化与辐射缺陷浓度的关联，分子链结构变化评估。

8.介电弛豫过程识别：界面极化弛豫，偶极子转向极化弛豫，离子跃迁弛豫。

9.材料均匀性评估：辐照后介电性能的空间分布均匀性。

10.长期可靠性预测：基于介电性能退化的辐射老化模型构建，剩余寿命预估。

检测范围

航天器用高分子绝缘薄膜、核反应堆电缆绝缘材料、卫星用复合介质基板、抗辐射集成电路封装材料、粒子探测器用闪烁体、医用直线加速器窗口材料、核级密封圈与垫片、辐射环境下传感器护套、特种功能涂层与镀层、耐辐射光纤涂层、电子器件灌封胶、核废料存储容器内衬材料、空间站用线缆组件、辐射屏蔽复合材料

检测设备

1.宽频介电谱仪：用于测量材料在不同频率电场下的介电常数与损耗；核心功能包括宽频率范围扫描与高精度阻抗分析。

2.高能粒子辐照装置：用于模拟太空或核环境中的辐射条件；可提供特定能量与注量率的电子、质子或伽马射线束流。

3.高温真空介电测试系统：用于在高温与真空环境下进行原位介电测量；具备精确的温度控制与电荷注入屏蔽功能。

4.脉冲电声法空间电荷测量系统：用于探测电介质内部的空间电荷分布；能够在辐射前后测量电荷的积聚与消散过程。

5.高压介电击穿测试仪：用于测定材料在高压下的击穿电压与时间；配备安全防护与电流快速切断机制。

6.变温样品室：与介电谱仪联用，实现不同温度条件下的介电性能测试；温控范围宽且稳定性高。

7.微观结构分析联用接口：实现辐照后样品从介电测试到电子显微镜等微观分析仪器的快速、无损转移。

8.微弱电流测量仪：用于精确测量辐照诱导的漏电流及体电阻变化；具备高输入阻抗与低噪声水平。

9.原位光电联合测试平台：集成光激励与电测量功能，用于研究辐射导致的光电导及光致介电性能变化。

10.数据采集与处理系统：用于同步采集辐射参数、环境参数与介电响应数据，并进行多物理场关联分析。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。