因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.电气性能测试：工作电压与电流、静态功耗、输入输出电平、漏电流。

2.功能验证测试：读写功能、擦除功能、寻址功能、坏块管理功能。

3.数据完整性测试：误码率、循环冗余校验、数据保持力、读写干扰。

4.性能指标测试：顺序读写速度、随机读写速度、输入输出操作每秒、访问延迟。

5.耐久性与寿命测试：可编程擦除次数、存储周期寿命、读写耐久性。

6.环境适应性测试：高低温工作测试、温度循环测试、湿热测试。

7.机械可靠性测试：振动测试、冲击测试、跌落测试、插拔耐久性。

8.兼容性测试：接口协议兼容性、不同主控平台兼容性、操作系统兼容性。

9.安全性测试：数据安全擦除、物理破坏防护、加密功能验证。

10.信号完整性测试：时序参数分析、信号眼图、上升下降时间、过冲振铃。

检测范围

闪存芯片、动态随机存取存储器芯片、静态随机存取存储器芯片、嵌入式多媒体卡、通用闪存存储芯片、固态硬盘、移动固态硬盘、存储卡、优盘、内存条、内存模组、存储服务器、磁盘阵列、混合存储设备、存储控制器、存储芯片晶圆

检测设备

1.高精度数字源表：用于精确施加电压与电流并测量器件的电性参数；具备四象限输出能力。

2.半导体参数分析仪：用于对存储芯片进行深入的直流及瞬态特性分析；支持精密电流电压测量。

3.存储器件专用测试系统：用于自动化执行存储器的功能、性能与可靠性测试；集成图形化测试程序开发环境。

4.高速数字信号分析仪：用于捕获和分析存储接口的高速数字信号波形；支持多种协议解码。

5.恒温恒湿试验箱：用于模拟并控制测试环境中的温度与湿度条件；可编程温度变化曲线。

6.温度冲击试验箱：用于对存储器件进行极端高低温快速转换的可靠性测试；实现两箱或三箱转换。

7.电磁振动试验系统：用于模拟产品在运输或使用中可能遇到的振动环境；可进行定频与随机振动测试。

8.机械冲击试验台：用于评估存储器件承受瞬间冲击力的能力；可设定不同的冲击波形与加速度。

9.协议分析仪：用于对存储设备接口通信协议进行捕获、分析与验证；支持主流存储接口标准。

10.高性能服务器平台：用于搭建存储性能测试环境，执行输入输出操作每秒等基准测试；配置可扩展的接口与软件。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。