因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1. 平面度误差检测：整体平面度，局部平面度，指定区域平面度。

2. 局部平整度检测：表面起伏度，单位面积内峰谷值，微观波纹度。

3. 整体翘曲度检测：最大翘曲高度，翘曲曲率半径，弯曲方向判定。

4. 表面轮廓测量：二维轮廓曲线，三维表面形貌，截面轮廓分析。

5. 厚度均匀性检测：多点厚度差，厚度分布图，边缘与中心厚度对比。

6. 共面度检测：多引脚或焊点共面度，多个安装面的共面偏差。

7. 边缘直线度与垂直度检测：边缘直线度误差，相邻边垂直度，边缘崩缺评估。

8. 表面粗糙度关联分析：特定区域粗糙度与平整度的关联性评估。

9. 热变形后平整度检测：温度循环后翘曲度，恒温负载下平面度变化。

10. 应力分布间接评估：通过平整度变化反推内部应力集中区域。

11. 光学元件面形精度检测：透射波前误差，反射面形偏差，光圈数识别。

检测范围

半导体晶圆、集成电路芯片、发光二极管芯片、微机电系统器件、陶瓷封装基板、覆铜板、柔性电路板、液晶显示面板、触摸屏传感器、光学玻璃透镜、金属反射镜、精密金属垫片、散热金属基板、陶瓷切削刀片、复合材料片材、平板玻璃、装饰金属板材、硅片、蓝宝石衬底、石墨烯薄膜

检测设备

1. 激光平面干涉仪：用于高精度平面度及面形测量；利用激光干涉原理，生成等高线图以量化表面起伏。

2. 白光干涉仪：用于微观轮廓与三维表面形貌测量；具有纳米级垂直分辨率，适用于光滑及粗糙表面。

3. 光学轮廓仪：用于非接触式表面轮廓与粗糙度测量；采用共聚焦或移相干涉技术。

4. 自动光学检测设备：用于快速视觉筛查与平面度初检；集成高分辨率相机与图像处理算法。

5. 三坐标测量机：用于复杂单元尺寸与形位公差的综合检测；可通过探头扫描获取表面点云数据。

6. 电容式测微仪：用于非接触精密测量微小位移与厚度变化；对导体材料具有高灵敏度。

7. 电感式测微仪：用于接触式高精度厚度与平整度测量；测量结果稳定，适用于金属样品。

8. 表面粗糙度仪：用于测量表面微观不平整度；通过触针划过表面获取轮廓曲线。

9. 平板与平晶：作为传统基准工具用于比对法平面度检测；通过观察干涉条纹评估平面偏差。

10. 翘曲度测试仪：专门用于测量薄型片状材料的翘曲度；通常采用非接触光学测量原理。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。