因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

元素分布成像：

• 空间分辨率测试：最小可分辨尺寸（≤10μm，参照ISO15632），元素映射均匀性（偏差≤10%）
• 成像速度评估：扫描时间（秒/点，如≤0.5s），实时成像能力（帧率≥5fps）

• 浓度范围检测：元素含量（0.1ppm-100wt%），定量精度（RSD≤5%）
• 检测限评估：LOD值（如≤10ppm），LOQ值（如≤50ppm）

• 微区焦点测试：光斑尺寸（1-50μm），聚焦稳定性（漂移≤1μm/h）
• 分辨率验证：线对测试（分辨率≥5lp/mm），边缘锐度（梯度变化≤10%）

• 元素覆盖范围：可测元素（Z≥11），重叠峰分辨（分离度≥90%）
• 谱峰识别精度：峰位偏差（±0.1keV），峰面积重复性（CV≤3%）

• 定量重复性测试：同点重复测量（RSD≤2%），日间稳定性（偏差≤5%）
• 系统误差评估：标准样品比对（误差≤±3%），长期漂移控制（≤1%/月）

• 标准曲线拟合：线性度（R²≥0.99），斜率稳定性（变化≤2%）
• 基体效应校正：基体匹配度（偏差≤5%），校正因子验证（精度±3%）

• 表面效应测试：粗糙度影响（误差≤5μm），氧化层干扰（校正后偏差≤3%）
• 厚度效应评估：穿透深度（μm级），饱和厚度限制（如≥50μm）

• 元素数量检测：同时分析元素数（≥20），交叉干扰控制（抑制率≥95%）
• 数据整合能力：谱图叠加精度（偏差≤5%），元素关联分析（相关系数≥0.9）

• 扫描模式测试：步进速度（mm/s，如≥1），快速成像参数（积分时间≤0.1s）
• 大面积覆盖：成像区域（mm²级），拼接精度（重叠误差≤2μm）

• 环境适应性：温度漂移（±1℃影响≤2%），湿度控制（RH≤60%）
• 长期运行验证：连续工作时间（≥24h），故障率（≤1次/100h）

检测范围

1.金属合金：涵盖铝合金、钛合金等，重点检测元素偏析、相分布及微区成分均匀性

2.陶瓷材料：包括氧化物陶瓷、氮化物陶瓷，侧重元素分布均匀性、杂质元素定位及界面分析

3.聚合物复合材料：涉及工程塑料、纤维增强材料，重点检测填料分布、添加剂浓度梯度及界面元素扩散

4.地质样品：如矿石、岩石薄片，侧重矿物相元素分布、微量元素富集区及蚀变带分析

5.电子元件：包括半导体芯片、PCB板，重点检测焊点元素分布、镀层厚度及杂质元素扩散

6.涂层材料：如防腐涂层、功能涂层，侧重涂层-基体界面元素扩散、厚度均匀性及成分梯度

7.生物组织：涵盖骨骼、牙齿切片，重点检测钙、磷等元素分布、矿化区域及病理变化分析

8.环境样品：如土壤颗粒、大气颗粒物，侧重重金属元素分布、污染源定位及迁移路径分析

9.考古文物：包括陶瓷碎片、金属器物，重点检测腐蚀层元素分布、原始成分还原及修复材料兼容性

10.医药产品：如药片涂层、植入材料，侧重活性成分分布、赋形剂均匀性及杂质元素检测

检测方法

国际标准：

• ISO15632:2020微束分析-波长色散X射线荧光光谱仪规范（聚焦光斑≤10μm）
• ASTME1621-21X射线荧光光谱元素定量分析方法（检测限≤10ppm）
• ISO3497:2022金属覆盖层-厚度测量（空间分辨率≥5μm）
• ASTMF1375-21电子元件元素成像测试（精度±5%）

• GB/T21JianCe-2021X射线荧光光谱元素分析（空间分辨率≤20μm）
• GB/T17359-2022微束分析-元素分布成像（检测限≤50ppm）
• GB/T20725-2021表面分析-电子探针（聚焦稳定性≤1μm）
• GB/T20123-2021钢铁成分分析（定量精度RSD≤5%）

检测设备

1.微区X射线荧光光谱仪：MXRF-2000型（空间分辨率1μm，检测限0.1ppm）

2.全反射XRF系统：TRX-150型（检测限0.01ppm，表面敏感度≤10nm）

3.波长色散XRF光谱仪：WDX-300型（分辨率5eV，元素范围Z≥4）

4.能量色散XRF光谱仪：EDX-500型（多元素同步分析≥30，积分时间0.1s）

5.共聚焦XRF成像系统：CFX-100型（深度分辨率5μm，三维成像能力）

6.便携式XRF分析仪：PXRF-80型（重量≤5kg，现场检测精度±10%）

7.高分辨率XRF显微镜：HRM-250型（光斑尺寸0.5μm，放大倍率≥1000x）

8.X射线管系统：XT-50型（电压范围5-50kV，电流稳定性≤1%）

9.探测器阵列：SDD-Array型（计数率≥100kcps，死时间≤1μs）

10.样品台系统：ST-3D型（移动精度±1μm，行程范围100x100mm）

11.真空样品室：VC-10型（真空度≤10-3Pa，轻元素检测能力）

12.冷却系统：LC-20型（温控精度±0.1℃，散热功率≥500W）

13.数据采集单元：DAU-150型（采样率≥1MHz，数据存储≥1TB）

14.校准光源：CLS-5型（标准元素源，稳定性RSD≤0.5%）

15.成像软件平台：IS-Imaging型（实时处理能力，元素映射精度±2%）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。