因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

化学成分检测：

• 硅含量检测：Siwt%（检测限≤0.001%，参照ISO17025）
• 碳含量检测：Cwt%（精度±0.05%，参照GB/T223.1）
• 杂质元素分析：Fe、Al含量（偏差值±0.003wt%）

• 密度测定：表观密度（≥1.75g/cm³）
• 孔隙率检测：开孔率（≤5%，参照ASTMC20）
• 硬度测试：肖氏硬度（HS≥60）

• 晶粒尺寸分析：平均尺寸（≥5μm，参照ISO643）
• 孔隙分布评估：孔径分布（0.1-10μm范围）
• 表面形貌观测：粗糙度（Ra≤0.5μm）

• 导热系数测量：≥120W/m·K（参照GB/T10295）
• 热膨胀系数测定：CTE（2.5-5.0×10⁻⁶/K）
• 热稳定性测试：失重率（≤0.1%/100h）

• 电阻率检测：≤15μΩ·m（参照IEC60404）
• 电导率评估：≥6.7×10⁴S/m
• 介电常数分析：εr（3.0-5.0）

• 抗压强度测试：≥50MPa（参照ISO604）
• 弯曲强度评估：≥30MPa
• 弹性模量测定：≥10GPa

• 涂层厚度检测：≥10μm（精度±0.1μm）
• 氧化层评估：厚度（≤2μm）
• 清洁度测试：颗粒物计数（≤100particles/cm²）

• 金属杂质检测：Cu、Ni含量（≤0.001wt%）
• 非金属杂质分析：S、P含量（检测限0.0005wt%）
• 水分含量测定：≤0.01wt%

• 耐腐蚀性测试：腐蚀速率（≤0.01mm/year）
• 氧化速率评估：增重率（≤0.05%/h）
• 辐射稳定性：中子吸收截面（≤0.1b）

• 外径公差：±0.05mm（参照GB/T1804）
• 内径一致性：偏差≤0.03mm
• 长度精度：±0.1mm

检测范围

1.高纯石墨管：用于半导体制造，重点检测硅含量≤0.005wt%及微观均匀性，确保电性能稳定性。

2.核级石墨管：应用于核反应堆，侧重辐射稳定性测试和中子吸收控制，硅含量检测精度要求±0.002wt%。

3.工业石墨管：涵盖耐磨部件，检测重点为抗压强度≥40MPa及表面硬度，硅杂质影响评估。

4.复合材料石墨管：含陶瓷或金属增强，着重界面结合强度及硅分布均匀性检测，避免分层缺陷。

5.涂层石墨管：表面涂覆防护层，检测涂层厚度均匀性≥10μm及硅渗透控制，确保耐腐蚀性。

6.高温应用石墨管：用于熔炉部件，重点测试导热系数≥100W/m·K及热膨胀系数稳定性，硅含量影响分析。

7.电子器件石墨管：应用于散热系统，检测电阻率≤20μΩ·m及电导率一致性，硅杂质电性能干扰评估。

8.航空航天石墨管：轻量化材料，着重密度≤1.8g/cm³及机械强度，硅含量对重量性能影响检测。

9.医疗设备石墨管：用于影像设备，检测生物相容性及硅杂质毒性控制，表面清洁度重点。

10.新能源石墨管：燃料电池应用，侧重氧化速率≤0.1%/h及硅催化效应检测，优化耐久性。

检测方法

国际标准：

• ISO17025:2017检测和校准实验室能力（要求硅含量检测精度±0.001%）
• ASTME1019-18碳和低合金钢中碳硫测定（扩展至石墨硅分析，检测限0.0005wt%）
• IEC60404-8-7:2017磁性材料电阻率测试（适用石墨电性能评估）

• GB/T223.1-2021钢铁及合金化学分析方法（硅含量测定，精度±0.05%，与ISO差异在样品制备步骤）
• GB/T10295-2008绝热材料导热系数测定（热性能测试，与ASTMC518差异在温度范围控制）
• GB/T1804-2000一般公差（尺寸检测，与ISO2768差异在公差等级分类）

检测设备

1.直读光谱仪：ModelOES-500（检测限0.0001%，精度±0.001%）

2.扫描电子显微镜：ModelSEM-2000（分辨率1nm，放大倍数100-100000x）

3.热导率测定仪：ModelTC-300（温度范围-50°C至1000°C，精度±1%）

4.万能材料试验机：ModelUTM-100（载荷范围0.01-100kN，精度±0.5%）

5.电阻率测试仪：ModelRES-50（量程0.1-1000μΩ·m，误差±0.1%）

6.密度计：ModelDEN-10（测量范围0.1-3.0g/cm³，精度±0.01g/cm³）

7.硬度计：ModelHAR-5（肖氏硬度标度，测试力10-1000N）

8.孔隙率分析仪：ModelPOR-20（孔径分析0.001-100μm，精度±0.5%）

9.热膨胀系数仪：ModelTEC-15（温度控制-196°C至1500°C，精度±0.1×10⁻⁶/K）

10.表面粗糙度仪：ModelSURF-8（测量范围Ra0.01-100μm，分辨率0.001μm）

11.氧化测试炉：ModelOXF-100（最高温度1200°C，气氛控制纯度99.99%）

12.辐射稳定性测试仪：ModelRAD-30（中子通量10¹¹n/cm²·s，吸收截面检测限0.01b）

13.涂层测厚仪：ModelCOAT-5（非破坏检测，范围1-500μm，精度±0.1μm）

14.杂质分析仪：ModelIMP-10（多元素同时检测，检测限0.0005wt%）

15.尺寸测量仪：ModelDIM-25（激光扫描精度±0.01mm，范围0-500mm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。