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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
热学性能检测:
1.陶瓷封装材料:包括氧化铝、氮化铝等,检测重点为高温热导率精度和各向异性评估,确保散热性能在-50~300°C范围内稳定性。
2.聚合物封装材料:如环氧树脂、硅胶类,检测重点聚焦热导率与填料含量关系,以及热循环下的界面退化。
3.金属基复合材料:涵盖铜基、铝基复合材料,检测重点包括热导率优化和金属-填料界面热阻控制。
4.硅基封装材料:用于半导体器件,检测重点为热膨胀系数匹配性和热扩散率在各向异性下的性能。
5.热界面材料:如导热膏、相变材料,检测重点涉及接触热阻最小化和长期热稳定性验证。
6.基板材料:包括PCB基板、陶瓷基板,检测重点聚焦热传导路径效率和多层结构热分布均匀性。
7.封装胶粘剂:如导电胶、绝缘胶,检测重点为导热性能与粘接强度的协同优化。
8.封装壳体材料:如铝合金壳体、塑料壳体,检测重点包括散热器热导率和环境适应性测试。
9.纳米复合材料:含纳米填料增强材料,检测重点为热导率提升率和纳米级填料分布分析。
10.柔性封装材料:用于柔性电子设备,检测重点包括弯曲状态下的热导率稳定性和热阻抗变化。
国际标准:
1.激光闪光分析仪:NetzschLFA467型(温度范围:-120~2800°C,精度±2%)
2.热流法导热仪:TAInstrumentsDTC-300型(热导率范围:0.01~5W/m·K,分辨率0.001W/m·K)
3.热机械分析仪:PerkinElmerDMA8000型(热膨胀系数测量精度±0.1ppm/K)
4.电子万能试验机:Instron5969型(载荷范围:0.1~50kN,应变速率控制)
5.扫描电子显微镜:HitachiSU8010型(分辨率:1.0nm,用于填料分布分析)
6.X射线衍射仪:RigakuSmartLab型(角度范围:3~80°,用于晶体结构检测)
7.热重分析仪:MettlerToledoTGA/DSC3+型(温度精度±0.1°C,质量分辨率0.1μg)
8.红外热像仪:FLIRT1030sc型(热灵敏度:20mK,用于温度分布测绘)
9.电阻率测试系统:Keithley2450型(电流范围:10pA~1A,电压精度±0.02%)
10.老化试验箱:BinderKBF720型(温度范围:-40~180°C,湿度控制±2%)
11.湿度循环试验箱:EspecPL-3KPH型(湿度范围:10~98%RH,温度循环速率5°C/min)
12.粘接力测试仪:Dage4000型(剪切力范围:0~500N,精度±0.5N)
13.超声波测厚仪:Olympus38DLPLUS型(厚度范围:0.1~500mm,精度±0.01mm)
14.密度计:MettlerToledoXS204型(密度范围:0~3g/cm³,精度±0.0001g/cm³)
15.热阻抗测试仪:LinseisTHB-100型(热阻范围:0.01~100K·cm²/W,接口兼容性)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。