因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

导电率参数：

• 体积电阻率：测量值≤0.01724μΩ·m（参照IEC60468）
• 导电率百分比：IACS≥98%（参照ASTMB193）
• 温度系数：α≤0.00393/°C

• 电阻值偏差：±0.5%（参照GB/T3048.2）
• 电阻均匀性：CV≤1%

• 热阻系数：β值测量（-50°C至150°C）
• 低温导电率：-196°C测试值

• 合金元素含量：Cu≥99.9%，杂质≤0.01%（参照ISO1190-1）
• 氧含量：O≤10ppm

• 晶粒度：G≥7级（参照ASTME112）
• 相分布均匀性：无偏析

• 维氏硬度：HV≥80
• 抗拉强度：Rm≥200MPa

• 热导率：κ≥400W/m·K
• 热膨胀系数：CTE≤17×10⁻⁶/K

• 表面电阻：≤0.1Ω/sq
• 粗糙度：Ra≤0.8μm

• 腐蚀后电阻变化：ΔR≤2%
• 湿度影响：RH90%测试

• 厚度公差：±0.01mm
• 探针间距精度：±0.1mm

检测范围

1.黄铜合金：C26000等含锌铜合金，检测重点为导电率与锌含量关系及耐蚀性影响。

2.磷青铜合金：C51000系列，侧重导电率与弹性模量协同测试及疲劳性能。

3.白铜合金：C70600含镍铜合金，检测重点为导电率温度系数及热稳定性。

4.铍铜合金：C17200高强铜合金，聚焦导电率与硬度关联及热处理效应。

5.铜镍合金：C71500等，检测重点为电阻率均匀性及低温环境适应性。

6.无氧铜：C10100高纯铜，强调导电率极值及氧杂质控制。

7.铝青铜合金：C95400系列，侧重导电率与耐磨性综合评估。

8.硅青铜合金：C65500，检测重点为导电率与硅含量关系及焊接性能。

9.铜铁合金：C19400，聚焦电阻率稳定性及磁性能影响。

10.高导铜带：用于电子封装，检测重点为薄层电阻及表面均匀性。

检测方法

国际标准：

• ASTMB193-20标准测试方法用于导电金属电阻率测定
• ISO1190-1:2022铜及铜合金分类和命名
• IEC60468:1974金属材料电阻率测量方法

• GB/T3048.2-2007电线电缆电性能试验方法
• GB/T5231-2012加工铜及铜合金化学成分和产品形状
• GB/T228.1-2021金属材料拉伸试验方法（用于辅助机械性能测试）

检测设备

1.四探针测试系统：Keithley2400型（电流范围0.1μA-10A，精度±0.05%）

2.数字万用表：Fluke87V型（电阻测量范围0.01Ω-40MΩ，精度±0.1%）

3.恒温槽：JulaboF32型（温度范围-70°C至300°C，稳定性±0.1°C）

4.高精度显微镜：OlympusBX53型（放大倍数50X-1000X，分辨率0.5μm）

5.直读光谱仪：OBLFQSN750-II型（元素检测限0.0001%，重复性±0.5%）

6.维氏硬度计：WilsonVH1150型（载荷范围10g-50kg，精度±1%）

7.拉伸试验机：INSTRON5969型（载荷范围1N-50kN，精度±0.5%）

8.热导率仪：NetzschLFA467型（测量范围0.1-2000W/m·K，误差±2%）

9.表面粗糙度仪：MitutoyoSJ-410型（测量范围Ra0.05-40μm，精度±5%）

10.环境试验箱：ESPECPL-3型（湿度范围10%-98%RH，温度范围-40°C至150°C）

11.探针定位台：ThorlabsMAX311D型（移动精度±1μm，行程50mm）

12.恒流源：Keithley6221型（输出电流1nA-100mA，稳定性±0.01%）

13.数据采集系统：NationalInstrumentsPXIe-1071型（采样率1MS/s，分辨率24bit）

14.金相切割机：StruersSecotom-15型（切割精度±0.02mm）

15.电子天平：MettlerToledoXS205型（称量范围0-220g，精度±0.01mg）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。