因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

环境适应性试验：

• 温度循环：范围-65°C至150°C（循环≥1000次，参照JESD22-A104）
• 湿热试验：85°C/85%RH（持续时间≥1000小时，参考IEC60068-2-78）
• 盐雾腐蚀：浓度5%NaCl（暴露时间≥96小时，参照ASTMB117）

• 振动测试：频率范围5Hz-2000Hz（加速度≥10g，参照MIL-STD-883）
• 冲击试验：峰值加速度≥1500g（半正弦波，脉宽0.5ms）
• 跌落测试：高度1.5m（自由落体至混凝土表面）

• 绝缘电阻：范围≥10^12Ω（测试电压500VDC）
• 耐压强度：击穿电压≥1500VAC（持续时间60秒）
• 漏电流：静态电流≤10μA（工作电压范围3.3V-5V）

• 高温寿命：125°C（持续时间≥1000小时，失效率≤0.1%/千小时）
• 加速老化：温度系数1.5（Arrhenius模型）
• 疲劳寿命：循环次数≥10^6次（应力水平80%额定值）

• SEM检查：放大倍率≥10000X（分辨率≤5nm）
• X射线透视：穿透深度≥50mm（参照IPC-6012）
• 热成像：温度分辨率≤0.1°C（热点检测）

• 人体模型：ESD电压≥15kV（参照IEC61000-4-2）
• 机器模型：放电能量≥200mJ
• 充电器件模型：阈值电压≥500V

• 热阻测量：结温上升≤50°C（功率耗散1W）
• 散热性能：热导率≥200W/mK
• 温度分布：梯度误差≤±2°C

• 气密性测试：氦检漏率≤10^-8atm·cc/sec
• 粘结强度：拉力≥5N（参照JEDECJESD22-B108）
• 焊点可靠性：剪切力≥30MPa

• 电离辐射：总剂量≥100krad（Si）
• 紫外线老化：辐照强度≥300W/m²（波长范围280nm-400nm）

• 溶剂浸泡：IPA/丙酮（浸泡时间≥24小时）
• 助焊剂残留：离子污染度≤1.56μg/cm²（参照IPC-TM-650）

检测范围

1.集成电路：涵盖微处理器、存储器芯片，重点检测热阻和电迁移失效。

2.电容器：陶瓷/电解电容类型，侧重ESR变化和寿命衰减。

3.电阻器：薄膜/厚膜电阻，检测温度系数漂移和噪声电平。

4.二极管：整流/稳压二极管，测试反向漏电流和热稳定性。

5.晶体管：BJT/MOSFET器件，评估开关速度和饱和电流。

6.连接器：板对板/线对板类型，关注插拔耐久性和接触电阻。

7.PCB基板：FR-4/高频材料，检测铜箔剥离强度和介电常数。

8.传感器：温度/压力传感器，重点校验精度漂移和响应时间。

9.继电器：机电/固态类型，验证触点寿命和绝缘性能。

10.光学器件：LED/光电耦合器，测试光衰和辐射强度一致性。

检测方法

国际标准：

• IEC60068-2-14温度变化试验方法
• MIL-STD-883微电子器件环境试验方法
• JEDECJESD22-A101稳态温湿度偏置寿命试验

• GB/T2423.10电工电子产品振动试验方法
• GB/T4937半导体器件机械和气候试验方法
• GB/T17626.2电磁兼容静电放电抗扰度试验

检测设备

1.温度试验箱：ESPECPL-3K（温度范围-70°C至180°C）

2.振动试验台：LDSV964（最大推力20kN，频率范围5Hz-3000Hz）

3.盐雾试验箱：ASCOTTS450（喷雾量1.0-2.0ml/80cm²/h）

4.高精度LCR表：KeysightE4980A（频率范围20Hz-2MHz，精度±0.05%）

5.ESD模拟器：ThermoKeyTekEMTestNX5（电压范围0.1kV-30kV）

6.恒温恒湿箱：ThermotronSM-32（湿度范围10%-98%RH，温度范围-40°C至150°C）

7.万能材料试验机：Instron5969（载荷范围0.01N-50kN）

8.半导体参数分析仪：Keithley4200A-SCS（电流分辨率≤1fA）

9.X射线检测系统：NordsonDAGEXD7600（分辨率≤1μm）

10.红外热像仪：FLIRT1030sc（热灵敏度≤18mK）

11.氦质谱检漏仪：LeyboldL300i（检测限≤5×10^-12mbar·L/s）

12.扫描电子显微镜：HitachiSU8000（放大倍率×1000000，分辨率≤1nm）

13.加速寿命试验系统：QualmarkT200（温度斜率≥15°C/min）

14.高频网络分析仪：Rohde&SchwarzZNB20（频率范围10MHz-20GHz）

15.湿热老化箱：MemmertHPP110（湿度控制精度±1%RH）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。