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介质损耗因数测试

原创版权 关键字:介质损耗因数测试测试标准,介质损耗因数测试测试案例,介质损耗因数测试测试仪器 相关: 发布时间: 2025-06-15 13:01:31

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因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

介质电气参数:

  • 介质损耗角正切(tanδ):基准值≤0.001、温度依赖性系数(%/°C,参照IEC60250)
  • 相对介电常数(εr):典型范围2.0-10.0、频率响应偏差(±0.5%)
  • 电导率(σ):测量值范围10⁻¹²S/m-10⁻⁶S/m
频率特性:
  • tanδ频率扫描:50Hz-1MHz范围、峰值损耗频率点
  • 介电常数频率稳定性:在1kHz-100kHz波动率≤2%
  • 损耗因数频宽:-3dB带宽值(Hz)
温度影响:
  • tanδ温度系数:-40°C至150°C变化率(%/°C)
  • 介电常数热漂移:温度梯度下εr偏差(±0.1%/°C)
  • 热老化后损耗:老化1000小时tanδ增加率≤10%
湿度响应:
  • 湿态tanδ:相对湿度90%下增量(%参考干燥值)
  • 吸湿率相关性:湿度变化导致εr漂移(mg/m²·h)
  • 电导湿度系数:RH30%-90%范围斜率(S/m·%)
电压依赖性:
  • tanδ电压扫描:0.1kV-10kV线性度误差(%)
  • 介电击穿阈值:击穿电压值(kV/mm,参照IEC60243)
  • 极化电流响应:阶跃电压下电流衰减时间(ms)
材料均匀性:
  • 局部tanδ分布:多点测量标准差(σ≤0.0001)
  • 厚度一致性影响:厚度偏差±5%对εr变化(%)
  • 表面效应:表面粗糙度Ra≤0.8μm下损耗偏差
老化性能:
  • 热老化tanδ稳定性:150°C加速老化后增值(%)
  • 氧化诱导损耗:氧气暴露下衰退率(%/h)
  • 机械应力后参数:弯曲应变后εr保留率≥95%
频率扫描精度:
  • 低频损耗(20Hz-1kHz):分辨率0.0001、噪声抑制比≥60dB
  • 高频稳定性(1MHz-10MHz):相位角误差±0.01°
  • 扫频步进精度:频率步长0.1Hz误差(%)
电容相关参数:
  • 等效串联电阻(ESR):值范围0.1Ω-100Ω、温度系数
  • 品质因数(Q):最小值≥100、频率相关性
  • 并联电容偏差:标称值±1%范围
环境适应性:
  • 低温损耗:-55°C下tanδ变化(%)
  • 高温稳定性:200°C短期εr漂移(%)
  • 湿度循环测试:10次循环后参数恢复率≥98%

检测范围

1.变压器绝缘油:涵盖矿物油及合成酯类,重点检测老化后tanδ上升及水分含量影响,确保绝缘退化监测。

2.电力电缆绝缘层:XLPE及EPR材料,侧重高频电场下tanδ频响特性与局部放电关联评估。

3.电容器介质薄膜:聚丙烯膜及陶瓷介质,核心检测介电常数稳定性和温度系数,优化储能效率。

4.电机绕组绝缘:漆包线及云母带,关注湿态环境tanδ变化与热老化性能退化。

5.印刷电路板基材:FR-4及高频层压板,重点评估高频损耗(tanδ≤0.02)及阻抗匹配特性。

6.高压绝缘子:陶瓷及复合材料,检测表面污染下tanδ增量与耐候性影响。

7.锂电池隔膜:聚烯烃薄膜,核心测试电导率阈值及高温下介电稳定性。

8.射频器件介质:微波陶瓷及聚合物,侧重介电常数精度(εr±0.1)与Q值优化。

9.光伏组件封装材料:EVA及POE胶膜,重点检测UV老化后tanδ上升及湿气渗透效应。

10.汽车电子绝缘部件:引擎舱线束及传感器封装,关注振动应力下损耗参数漂移与耐久性。

检测方法

国际标准:

  • IEC60250Methodsforthedeterminationofthepermittivityanddielectricdissipationfactor
  • ASTMD150JianCeTestMethodsforACLossCharacteristicsandPermittivity
  • IEC60894Measurementofcapacitanceanddissipationfactoratpowerfrequencies
  • ASTMD924JianCeTestMethodforDissipationFactorandRelativePermittivity
国家标准:
  • GB/T1409Measurementofdielectricpropertiesofinsulatingmaterialsathighfrequencies
  • GB/T1693Methodsoftestfordissipationfactoranddielectricconstantofsolidelectricalinsulatingmaterials
  • GB/T5654Methodsfordeterminationofdielectricpropertiesofinsulatingliquids
  • GB/T20102Testmethodsfordielectricdissipationfactorandcapacitanceofcapacitors
方法差异说明:IEC标准强调宽频测量(20Hz-1MHz),而GB/T1409聚焦工频50Hz优化;ASTMD150使用并联等效电路模型,GB/T1693偏好串联模型导致tanδ计算偏差;湿度控制方面,IEC要求RH±2%精度,GB标准允许±5%范围。

检测设备

1.精密LCR表:KeysightE4980A(频率范围20Hz-2MHz,基本精度0.05%)

2.介质损耗测试仪:Agilent4284A(频率范围20Hz-1MHz,tanδ分辨率0.0001)

3.高频阻抗分析仪:Rohde&SchwarzZNB8(频率范围10MHz-8.5GHz,动态范围140dB)

4.电容测试仪:WayneKerr6500B(电容范围1pF-100mF,精度±0.1%)

5.恒温恒湿测试箱:EspecSH-222(温度范围-70°Cto180°C,湿度范围10%-98%RH)

6.高电压源:Trek610E(输出电压0-20kV,稳定性±0.01%)

7.频率响应分析仪:SRSSR785(频率分辨率0.002Hz,动态范围100dB)

8.老化测试室:MemmertIN260(温度均匀性±0.5°C,循环次数1000+)

9.表面粗糙度仪:MitutoyoSJ-410(测量范围0.05-160μmRa分辨率0.001μm)

10.热分析仪:NETZSCHDMA242E(温度范围-170°Cto600°C,频率0.01-100Hz)

11.湿度发生器:VotschVCL4003(RH控制精度±1%,流量0.5-10L/min)

12.电导率计:Metrohm856Module(测量范围0.01pS/m-1000S/m,精度±0.5%)

13.扫描电子显微镜:HitachiSU5000(分辨率1.0nm,加速电压0.5-30kV)

14.真空干燥箱:BinderVD53(真空度≤1mbar,温度范围+5°Cto300°C)

15.数据采集系统:NationalInstrumentsPXIe-4499(采样率204.8kS/s,24-bitADC)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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