因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

粒径分布：测量D10/D50/D90值及跨度系数
球形度：采用二维投影法计算长径比
密度：真密度与表观密度测定（误差≤0.5%）
硬度：维氏硬度HV0.1-HV1范围测试
元素组成：EDX能谱分析（检出限0.1wt%）
晶体结构：XRD半峰宽与晶格常数计算
表面粗糙度：AFM扫描Ra值（分辨率0.1nm）
孔隙率：压汞法测定0.003-1000μm孔径分布
磁性能：饱和磁化强度（2%精度）
热稳定性：TGA失重曲线（升温速率10℃/min）

检测范围

金属粉末（钛/铝/铜基合金）
陶瓷颗粒（碳化硅/氮化铝/氧化锆）
高分子微球（PS/PMMA/PLGA）
催化剂载体（分子筛/活性氧化铝）
磨料微粉（金刚石/立方氮化硼）
药物微粒（API晶体/缓释微囊）
电池材料（三元正极/硅碳负极）
3D打印粉末（316L/Inconel718）
荧光粉颗粒（YAG:Ce/SrAl2O4）
环境粉尘（PM2.5/PM10组分分析）

检测方法

ASTMB822-20激光衍射法测粒度分布
ISO13322-1:2014动态图像分析法评估形貌
GB/T5162-2021金属粉末振实密度测定
ISO4499-4:2016硬质合金显微硬度测试
GB/T19077-2016粒度分析激光衍射法
ASTME2142-08(2021)XRD定量相分析
ISO15901-2:2022压汞法测孔隙结构
GB/T20123-2006高频红外碳硫分析
ISO18558:2015扫描电镜能谱标定规范
ASTME2550-21热重分析质量控制标准

检测设备

Mastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm测量范围
NanoMeasurer1.2图像处理系统：5000倍SEM图像解析
TruDensity2380真密度仪：氦气置换法0.02%精度
HV-1000Z显微硬度计：10gf-1kgf多级载荷模块
EDAXOctaneElite能谱仪：60mm硅漂移探测器
BrukerD8ADVANCEXRD：Cu靶光源λ=1.5406
AutoPoreV9600压汞仪：414MPa超高压测量模块
LakeShore7407振动样品磁强计：210⁻⁵emu灵敏度
STA449F5同步热分析仪：-150℃~1600℃温控范围
JPKNanoWizard4原子力显微镜：接触/轻敲双模式切换

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。