因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.极化反转时间（0.1μs-10s量程）
2.残余电荷密度（5nC/cm精度）
3.介电弛豫时间（10Hz-1MHz频段）
4.动态阻抗谱（0.1Ω-10MΩ范围）
5.电压阶跃响应（1000V阶跃电压）
6.瞬态电流峰值（0.1mA-10A量程）
7.介质损耗角正切值（0.0001-1.0分辨率）
8.空间电荷分布（0.01mm空间分辨率）
9.温度依赖性（-70℃至300℃温控）
10.频率响应特性（DC-100kHz扫频）

检测范围

1.铁电陶瓷材料
2.高分子驻极体薄膜
3.压电传感器元件
4.储能电容器介质
5.绝缘聚合物复合材料
6.半导体功率器件
7.液晶显示单元
8.MEMS执行机构
9.电磁屏蔽材料
10.固态电解质薄膜

检测方法

ASTMD150-18介电常数测试标准
IEC60250电极化特性测量规范
GB/T1409-2006高频介质损耗测试法
ISO21348-2007空间电荷分布测量规程
ASTMF1800-20脉冲电流响应测试
SJ/TJianCe85-2015铁电材料极化特性测量
GB/T1693-2007硫化橡胶介电强度试验
IEC62631-3-1介电弛豫谱分析方法
ISO21438-2电化学阻抗谱技术
ASTME2283-18高温介电性能测试

检测设备

TrekModel610E高压放大器（10kV/20mA）
KeysightE4990A阻抗分析仪（20Hz-120MHz）
RadiantPrecisionPremierII铁电测试系统
Agilent33500B函数发生器（30MHz带宽）
TektronixDPO4104B示波器（1GHz采样率）
Keithley6517B静电计（10fA分辨率）
HIOKIIM3590化学阻抗分析仪（0.05%精度）
FLIRA615热像仪（640480红外分辨率）
Labsphere积分球光谱测试系统（300-2500nm）
SUSSMicroTecProbeStation探针台（0.5μm定位精度）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。