因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.材料成分分析：元素含量（0.1ppm-100%）、化合物官能团识别（400-4000cm⁻波数范围）
2.微观结构表征：晶粒尺寸（10nm-500μm）、相分布（空间分辨率≤1μm）
3.污染物鉴定：异物成分定性（检出限≤0.1wt%）、层间扩散深度（测量精度50nm）
4.薄膜厚度测量：纳米级膜层（1nm-10μm），误差≤3%
5.应力分布分析：拉曼频移（5cm⁻精度），应变场二维成像

检测范围

1.半导体材料：硅晶圆掺杂浓度、III-V族化合物缺陷分析
2.高分子聚合物：共混物相分离、添加剂分布
3.金属材料：镀层成分梯度、氧化腐蚀产物鉴定
4.生物样本：细胞组分原位分析、药物载体缓释监测
5.考古文物：颜料成分无损检测、包浆老化层研究

检测方法

1.ASTME2149-20抗菌材料表面元素分布测试
2.ISO21363:2020纳米颗粒拉曼光谱定量分析
3.GB/T32198-2015红外显微光谱法通则
4.ASTME2809-22微区X射线荧光标准指南
5.GB/T40111-2021激光显微发射光谱技术规范

检测设备

1.ThermoScientificDXR3xi显微拉曼光谱仪：532/785nm双激光源，空间分辨率0.5μm
2.BrukerHyperion3000红外显微镜：6464焦平面阵列探测器，4cm⁻光谱分辨率
3.HORIBAXploRAPLUS共聚焦拉曼系统：100物镜NA0.9，温控范围-190C~600C
4.ShimadzuAIM-9000微区XRF：Rh靶X光管（50kV/1mA），多毛细管光学聚焦
5.ZeissSigma300场发射电镜+牛津EDS系统：束斑尺寸1nm，元素探测范围B-U
6.RenishawinViaQontor显微拉曼平台：STED超分辨模式（120nm分辨率）
7.AgilentCary620FTIR显微镜：128128像素FPA探测器，透反射双模式
8.JEOLJXA-8530F电子探针：波长色散谱仪（5通道），定量分析精度2%
9.OlympusLEXTOLS5000激光共焦显微镜：405nm激光光源，Z轴分辨率0.01nm
10.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD显微镜：微区衍射光束尺寸50μm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。