因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.漏电流测试：测量范围0.1nA-10μA，分辨率达0.05nA
2.绝缘电阻测试：施加电压50V-1000V时测量10^9-10^16Ω阻抗
3.表面电荷衰减：监测1nA-1mA电荷释放过程的时间常数
4.介质击穿特性：记录击穿前1-100nA预放电信号
5.接触电阻漂移：跟踪10nA恒流下接触电阻的长期稳定性

检测范围

1.半导体晶圆与封装器件
2.MEMS传感器执行机构
3.纳米涂层导电薄膜材料
4.生物电化学传感器电极
5.航天级连接器与线缆组件

检测方法

1.ASTMF1241-22：半导体器件亚微安级漏电流测试规程
2.IEC62631-3-1:2016：介电材料体积电阻率测量方法
3.GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积电阻试验方法
4.ISO1853:2018：导电橡胶电阻率四探针法
5.GB/T17626.2-2018：电磁兼容静电放电抗扰度测试

检测设备

1.Keithley6430亚微安源表：最小分辨率0.1fA，支持四线制测量
2.KeysightB2987A高阻计：最大量程10PΩ/10fA直流测量
3.TektronixPA1000功率分析仪：支持nA级纹波电流分析
4.HiokiIM3590化学阻抗分析仪：频率范围10μHz-200kHz
5.Fluke8846A精密万用表：基本DCV精度0.0024%
6.ChauvinArnouxC.A6549接地电阻测试仪：最大测试电流25A
7.Agilent4156C半导体参数分析仪：支持100aA分辨率测量
8.MeggerMIT525绝缘测试仪：输出250V至10kV可调直流
9.ZenniumE电化学工作站：电流量程10mA至10pA
10.OmicronBode100频响分析仪：相位精度0.01@10mHz

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。