因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.晶格常数测定：精度0.001（采用选区电子衍射SAED）
2.原子占位率分析：误差≤0.5%（基于球差校正STEM-EELS）
3.元素分布均匀性：面扫描分辨率0.1nm（EDSmapping）
4.表面化学态表征：结合能分辨率0.02eV（XPSAlKα源）
5.缺陷密度计算：检出限10^15cm^-3（CL阴极发光谱）

检测范围

1.二维半导体材料（MoS₂、WS₂单层晶体）
2.贵金属催化剂（Pt1/FeOx单原子分散体系）
3.拓扑绝缘体（Bi₂Se₃薄膜）
4.钙钛矿量子点（CsPbBr₃单晶颗粒）
5.高熵合金纳米晶（FeCoNiCrAl系单相固溶体）

检测方法

1.ASTME2867-14(2020)：场发射扫描电镜定量微区成分分析
2.ISO21363:2021：纳米颗粒尺寸分布的TEM测定法
3.GB/T36065-2018：纳米材料表征用透射电子显微镜方法
4.ISO22262-3:2016：X射线衍射定量相分析方法
5.GB/T19588-2017：纳米粉末粒度分布的X射线小角散射法

检测设备

1.FEITitanThemisZ：球差校正透射电镜（空间分辨率0.06nm）
2.BrukerD8Advance：高分辨X射线衍射仪（Cu靶Kα1辐射）
3.ThermoScientificNexsaG2：X射线光电子能谱仪（单色化Al/Mg双阳极）
4.JEOLJEM-ARM300F：原子级分析电镜（冷场发射电子枪）
5.MalvernZetasizerNanoZSP：动态光散射仪（粒径范围0.3nm-10μm）
6.ZeissGeminiSEM500：场发射扫描电镜（二次电子分辨率0.6nm@15kV）
7.RenishawinViaQontor：共聚焦拉曼光谱仪（空间分辨率200nm）
8.ShimadzuICPE-9820：电感耦合等离子体发射光谱仪（检出限ppb级）
9.ParkNX20：原子力显微镜（垂直分辨率0.01nm）
10.RigakuSmartLabSE：高分辨X射线衍射系统（四轴测角仪）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。