因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.反冲电子能量分布范围：0.1-10MeV（0.5%测量误差）
2.电子通量密度：10^3-10^7e/cms（动态范围≥6个数量级）
3.角分布偏差：2内（半球面测量精度）
4.时间分辨能力：≤5ns（脉冲间隔测量）
5.本底噪声水平：≤1%信号强度（铅屏蔽室环境）

检测范围

1.半导体材料（硅/锗基器件）
2.核反应堆结构材料（锆合金/不锈钢）
3.辐射屏蔽材料（钨基复合材料）
4.医疗放射性设备部件（加速器靶材）
5.航天器电子元件（抗辐射加固电路）

检测方法

1.ASTME521-16：带电粒子辐照损伤评估标准
2.ISO12749-3:2015：核能应用材料电子逸出测试
3.GB/T16140-2018：β放射性物质表面污染监测规范
4.GB8994-2008：辐射防护监测通用要求
5.ASTME264-19：电子能谱分析标准规程

检测设备

1.ORTECAlphaSpectrometerModel576A：高精度电子能谱分析（分辨率≤0.05%）
2.CanberraGC3018HPGe探测器：低本底β粒子探测（效率≥40%）
3.ThermoFisherXRAD440i：脉冲式电子束发生与实时监测系统
4.BrukerXFlash6160：硅漂移探测器（能量分辨率129eV@Mn-Kα）
5.Agilent4156C精密半导体分析仪：器件级电荷收集效率测试
6.RigakuZSXPrimusIVXRF分析仪：元素成分同步验证
7.PerkinElmerLAMBDA365UV/Vis分光光度计：表面缺陷光学表征
8.AMETEKSPECTROGREENCCD光谱仪：高灵敏度电子能量分布成像

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。