因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.脉冲宽度测量：范围0.1ns-10μs，分辨率≤10ps
2.幅度动态范围：50mV-10V线性度误差＜0.5%
3.时间间隔分辨率：最小可识别间隔2ns
4.基线恢复特性：100MHz方波后恢复时间≤20ns
5.堆积识别阈值：可调范围0.5%-5%FS

检测范围

1.硅基半导体探测器组件
2.碲锌镉（CZT）辐射传感器
3.多层钽酸锂屏蔽结构体
4.高速光电倍增管阵列模组
5.高温超导量子干涉器件

检测方法

1.ASTMF1801-18核电子学系统脉冲特性测试规程
2.ISO11929-7:2020电离辐射测量系统性能评估
3.GB/T10261-2018核仪器通用测试方法
4.IEC60748-4-3:2017半导体器件混合电路测试
5.GB/T17626.4-2018电磁兼容快速瞬变脉冲群抗扰度试验

检测设备

1.TektronixDPO7254C数字荧光示波器（25GHz带宽）
2.KeysightN5193AUXG微波信号发生器（20GHz）
3.ORTEC926ASPECT数字多道分析系统
4.CAENDT5720F250MHz数字化仪
5.Fluke8588A参考级万用表（8.5位分辨率）
6.Rohde&SchwarzRTO2044示波器（4GHz）
7.AmptekXR-100CRYOMOSFET低温前置放大器
8.Keithley6221精密电流源（100fA分辨率）
9.NationalInstrumentsPXIe-5171R高速采集卡（250MS/s）
10.AdvantestU3751型射频参数分析仪（40GHz）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。