因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

检测项目

1.化学成分分析：Cu含量（45-55%）、Se含量（45-55%）、杂质元素（Fe≤0.01%、Pb≤0.005%、As≤0.003%）
2.晶体结构表征：晶格常数（a=3.950.02）、晶面间距（d₁₁₁=2.280.05）、结晶度（≥90%）
3.表面形貌观测：颗粒尺寸（10-500nm）、粒径分布（D5010%）、表面粗糙度（Ra≤5nm）
4.电学性能测试：电阻率（110^-3-510^-3Ωcm）、载流子浓度（110¹⁸-510¹⁹cm^-3）
5.热稳定性评估：热分解温度（≥350℃）、热膨胀系数（8-1210^-6/K）

检测范围

1.光伏薄膜材料：CIGS太阳能电池吸收层
2.半导体器件：场效应晶体管沟道层
3.纳米功能材料：量子点合成前驱体
4.合金靶材：磁控溅射用高纯靶材
5.催化剂载体：电化学析氢反应催化剂

检测方法

1.X射线衍射（XRD）：ASTME975-20《材料晶体结构测定》
2.电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：GB/T20127-2006《金属材料痕量元素测定》
3.扫描电子显微镜（SEM）：ISO16700:2016《微束分析技术规范》
4.四探针电阻测试：GB/T1551-2021《半导体材料电阻率测试》
5.热重分析（TGA）：ASTME1131-20《材料热稳定性测定》
6.X射线光电子能谱（XPS）：ISO18118:2015《表面化学分析标准》

检测设备

1.X射线衍射仪：PANalyticalEmpyrean，配备高温附件（25-1000℃）
2.场发射扫描电镜：HitachiSU5000，分辨率0.8nm@15kV
3.电感耦合等离子体质谱仪：ThermoFisheriCAPRQ，检出限0.1ppb
4.四探针测试系统：LucasLabsSYS-301C，量程10^-4-10⁴Ωcm
5.热分析系统：NETZSCHSTA449F5，升温速率0.1-50K/min
6.X射线光电子能谱仪：KratosAXISSupra+，单色AlKα源
7.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000，测量范围0.01-3500μm
8.霍尔效应测试仪：LakeShore8404Series，磁场强度0-2T
9.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon，扫描范围90μm90μm
10.紫外可见分光光度计：PerkinElmerLambda950，波长范围175-3300nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。